【摘要】：目的探討新生兒低血糖性腦損傷的臨床特點(diǎn)及相關(guān)危險(xiǎn)因素。方法選擇本院2010年1月至2017年2月期間收治的低血糖癥新生兒106例,積極處理患兒低血糖狀態(tài),根據(jù)核磁共振(MRI)、腦電圖(EEG)等檢查結(jié)果,將出現(xiàn)腦損傷的19例患兒納入觀察組,未出現(xiàn)腦損傷的87例患兒納入對(duì)照組。觀察記錄低血糖性腦損傷患兒的臨床表現(xiàn),對(duì)性別、胎齡、新生兒體質(zhì)量、分娩方式、妊娠期糖尿病、妊娠期高血壓、新生兒窒息、病理性黃疸、首次哺乳時(shí)間、喂養(yǎng)困難、呼吸異常、肌張力降低、新生兒驚厥、意識(shí)異常、最低血糖水平、低血糖持續(xù)時(shí)間,EEG檢查情況等可能影響低血糖新生兒腦損傷的因素進(jìn)行單因素及多因素回歸分析。結(jié)果研究中低血糖性腦損傷的發(fā)生率為17.9%,其主要臨床表現(xiàn)為驚厥、呼吸異常、肌張力降低,MRI檢查提示所有患兒損傷主要累及頂枕部皮層,擴(kuò)散加權(quán)成像呈高信號(hào),大多數(shù)T1W1呈低信號(hào),T2W1呈高信號(hào);EEG檢查結(jié)果提示大多患兒出現(xiàn)異常改變,以局灶性陣發(fā)性棘波、電壓平坦以及雙側(cè)半球間斷低電壓表現(xiàn)為主。經(jīng)過單因素及多因素Logistic回歸分析后得到孕婦合并妊娠期糖尿病、新生兒驚厥、血糖水平低于1.5 mmol/L、低血糖持續(xù)時(shí)間24 h、EEG檢查結(jié)果異常是影響新生兒低血糖性腦損傷的獨(dú)立危險(xiǎn)因素,差異均具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義(P0.05)。結(jié)論新生兒血糖濃度過低、低血糖狀態(tài)持續(xù)時(shí)間越長、新生兒驚厥發(fā)作、孕婦合并妊娠期糖尿病、EEG檢查結(jié)果異�？赡苡绊懶律鷥旱脱切阅X損傷的發(fā)生,應(yīng)加強(qiáng)監(jiān)測并積極干預(yù),降低新生兒腦損傷風(fēng)險(xiǎn),避免神經(jīng)系統(tǒng)損傷。
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【作者單位】： 航空總醫(yī)院;
【分類號(hào)】：R722.1

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本文編號(hào)：2455721