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半導(dǎo)體芯片封裝過程中視覺定位關(guān)鍵技術(shù)研究

發(fā)布時間:2018-03-18 21:57

  本文選題:芯片封裝 切入點(diǎn):視覺定位 出處:《華中科技大學(xué)》2016年博士論文 論文類型:學(xué)位論文


【摘要】:在半導(dǎo)體芯片封裝過程中,視覺定位技術(shù)是實現(xiàn)芯片精確拾取和轉(zhuǎn)移的核心技術(shù)之一。近年來出現(xiàn)的細(xì)長芯片和超薄高密度芯片對現(xiàn)有封裝技術(shù)提出了新的要求。為了解決以往視覺定位算法在新的封裝需求下定位不準(zhǔn)確或無法定位的問題,本文提出了基于多級教與學(xué)優(yōu)化算法的相機(jī)標(biāo)定方法、有效區(qū)域歸一化互相關(guān)匹配算法和空間結(jié)構(gòu)約束特征點(diǎn)匹配算法,現(xiàn)將本文研究內(nèi)容總結(jié)如下:1)提出了基于多級教與學(xué)優(yōu)化算法的相機(jī)標(biāo)定方法。多級教與學(xué)優(yōu)化算法是對教與學(xué)優(yōu)化算法的改進(jìn),本文創(chuàng)新性地引入了“校長”的概念,提出了“老師”之間相互學(xué)習(xí)的思想。相比于原始的只有“老師”和“學(xué)生”兩個角色的教與學(xué)算法,多級教與學(xué)優(yōu)化算法具有更強(qiáng)的全局搜索能力,在精確求取相機(jī)內(nèi)部參數(shù)、外部參數(shù)和畸變系數(shù)時更容易跳出局部最優(yōu)解,提高了相機(jī)標(biāo)定精度和芯片封裝過程中的定位精度。2)提出了有效區(qū)域歸一化互相關(guān)匹配算法RBNCC.該算法通過區(qū)域置信函數(shù)對圖像中的芯片和背景像素進(jìn)行分類加權(quán),解決了現(xiàn)有灰度算法無法精確定位細(xì)長芯片和有效識別破損芯片的問題,提高了細(xì)長芯片封裝過程中的定位精度和良品率。提出了芯片邊界框快速檢測方法,可將圖像搜索范圍縮減到芯片周圍區(qū)域,加快了RBNCC算法的定位速度,提升了半導(dǎo)體封裝裝備效率。3)提出了空間結(jié)構(gòu)約束特征點(diǎn)匹配算法SCFP。超薄高密度芯片電路圖案復(fù)雜,特征豐富,因此非常適合使用特征點(diǎn)匹配算法進(jìn)行定位,但是現(xiàn)有算法無法在同一幅圖像中匹配多顆芯片。為了解決該問題,SCFP算法不僅利用了特征點(diǎn)周圍的局部信息,還利用了特征點(diǎn)之間的拓?fù)潢P(guān)系,從而可以將目標(biāo)圖像中的特征點(diǎn)有效地劃分到不同芯片區(qū)域。結(jié)合本文提出的基于多級教與學(xué)優(yōu)化算法的相機(jī)標(biāo)定方法,推導(dǎo)了芯片三維姿態(tài)計算公式,為多自由度拾取頭準(zhǔn)確拾取超薄高密度芯片、防止其破碎提供了依據(jù)。4)為了縮短視覺定位算法的計算時間,提升芯片封裝效率,本文分析了有效區(qū)域歸一化互相關(guān)匹配算法和空間結(jié)構(gòu)約束特征點(diǎn)匹配算法中可并行執(zhí)行的任務(wù),充分利用GPU在并行計算、內(nèi)存管理等方面的優(yōu)勢,合理分配了主機(jī)端和設(shè)備端的資源以及在兩種算法中承擔(dān)的角色,實現(xiàn)了兩種算法的加速。5)構(gòu)建了具有自主知識產(chǎn)權(quán)的圖像處理函數(shù)庫MV1.0,定義了基于多級教與學(xué)優(yōu)化算法的相機(jī)標(biāo)定方法、有效區(qū)域歸一化互相關(guān)匹配算法和空間結(jié)構(gòu)約束特征點(diǎn)匹配算法的用戶接口函數(shù),完成了三種算法在MV1.0中的集成,設(shè)計了智能工具軟件MVPlat,該軟件界面友好,操作簡便,方便進(jìn)行算法驗證。最后在典型半導(dǎo)體封裝裝備上進(jìn)行了應(yīng)用與測試,測試結(jié)果表明三種算法滿足實際應(yīng)用需求,具有廣泛的應(yīng)用前景。
[Abstract]:In the process of semiconductor chip packaging, Visual positioning technology is one of the core technologies to realize the accurate pickup and transfer of chips. In recent years, thin and long chips and ultra-thin high density chips have put forward new requirements for the existing packaging technology. In order to solve the problem of visual positioning calculation in the past. To locate problems that are inaccurate or unable to locate under the new packaging requirements, This paper presents a camera calibration method based on multi-level teaching and learning optimization algorithm, an effective region normalized cross-correlation matching algorithm and a spatial structure constrained feature point matching algorithm. In this paper, the following is summarized as follows: 1) A camera calibration method based on multi-level teaching and learning optimization algorithm is proposed. The multi-level teaching and learning optimization algorithm is an improvement on the teaching and learning optimization algorithm. In this paper, the concept of "principal" is introduced innovatively. This paper puts forward the idea of "teachers" learning from each other. Compared with the original teaching and learning algorithms with only the roles of "teacher" and "student", the multi-level teaching and learning optimization algorithm has a stronger global search ability. It is easier to jump out of the local optimal solution when the camera internal parameters, external parameters and distortion coefficients are accurately obtained. An effective region normalized cross-correlation matching algorithm RBNCCS is proposed, which classifies and weights the chip and background pixels in the image by using the region confidence function (RBC), which improves the calibration accuracy of the camera and the positioning accuracy in the chip packaging process. It solves the problem that the existing gray level algorithm can not accurately locate the thin chip and effectively identify the damaged chip, and improves the positioning accuracy and the good product rate in the process of packaging the slender chip. A fast detection method for the chip boundary frame is proposed. The search range of image can be reduced to the area around the chip, the localization speed of the RBNCC algorithm is accelerated, and the efficiency of semiconductor packaging equipment is improved. Because of the rich features, it is very suitable to use the feature point matching algorithm for localization, but the existing algorithms can not match multiple chips in the same image. In order to solve this problem, the SCFP algorithm not only makes use of the local information around the feature points. The topological relationship between the feature points is also used to divide the feature points into different chip regions effectively. The camera calibration method based on the multi-level teaching and learning optimization algorithm is proposed in this paper. The three-dimensional attitude calculation formula of the chip is derived, which provides a basis for accurately picking up ultra-thin and high-density chips with multi-degree-of-freedom pick-up heads and preventing them from breaking) in order to shorten the computing time of the visual positioning algorithm and improve the packaging efficiency of the chip. In this paper, we analyze the tasks that can be performed in the efficient region normalized cross-correlation matching algorithm and the spatial structure constraint feature point matching algorithm, and make full use of the advantages of GPU in parallel computing, memory management, etc. Reasonable allocation of host and device resources and roles in the two algorithms, The image processing function library MV1.0 with independent intellectual property rights is constructed, and the camera calibration method based on multi-level teaching and learning optimization algorithm is defined. The user interface function of the effective region normalized cross-correlation matching algorithm and the spatial structure constraint feature point matching algorithm is implemented. The integration of the three algorithms in MV1.0 is completed. The intelligent tool software MVPlatis is designed. The interface of the software is friendly and the operation is simple. Finally, it is applied and tested on typical semiconductor packaging equipment. The test results show that the three algorithms meet the needs of practical applications and have a wide application prospect.
【學(xué)位授予單位】:華中科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:博士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號】:TP391.41

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本文編號:1631475

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