在X射線成像各類(lèi)技術(shù)中,X射線間接成像器由于具有探測(cè)效率高等優(yōu)勢(shì),因此是一項(xiàng)很重要的技術(shù)。X射線間接成像器將入射的X射線通過(guò)閃爍體轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光,隨后物像經(jīng)過(guò)后續(xù)的光學(xué)透鏡系統(tǒng)傳送到成像探測(cè)陣列中實(shí)現(xiàn)圖像可視和讀取。因此閃爍體的性能是X射線探測(cè)器性能的基礎(chǔ),閃爍體影響著X射線間接成像探測(cè)器的空間分辨率、時(shí)間分辨率和探測(cè)效率等重要指標(biāo)。眾所周知,閃爍體可以吸收高能射線后發(fā)出可見(jiàn)光,具有不潮解、耐高低溫、熱力學(xué)性能穩(wěn)定、實(shí)用性、適用性強(qiáng),并且具有微米級(jí)的成像分辨率等優(yōu)點(diǎn),在科研醫(yī)療、行李安檢、工業(yè)探傷、輻射探測(cè)領(lǐng)域、設(shè)備無(wú)損檢測(cè)等方面發(fā)揮重要作用。但是閃爍體的折射率與空氣的折射率差距比較大,閃爍體內(nèi)部的受激光子在閃爍體和空氣的界面處發(fā)生全反射,損失大量受激光子,特別是中高頻光信息,造成X射線間接成像探測(cè)器成像質(zhì)量不高。因此,對(duì)高性能X射線間接成像探測(cè)器的需求吸引了眾多科學(xué)研究人員從多方面進(jìn)行深入研究。為了提高X射線間接成像探測(cè)器的成像質(zhì)量,提高圖像細(xì)節(jié)信噪比,解決X射線成像方法學(xué)的不足,我們提出了創(chuàng)新性的解決方案,并且進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn)工作,具體工作內(nèi)容如下:(一)為了研究高性能硬X射線間接閃爍...

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【學(xué)位級(jí)別】：博士

【部分圖文】：

圖2.2光子晶體增加光出射的原理圖

X射線閃爍體成像探測(cè)器光學(xué)編碼成像研究6向的光的傳播�；诠庾泳w的性質(zhì)，科學(xué)家研究出很多新型器件，例如超透鏡、偏振器等等[49,50]。圖2.2光子晶體增加光出射的原理圖。（a）閃爍體的光傳輸圖，（b）表面修飾光子晶體的閃爍體的光傳輸圖。Fig.2.2Schematicdiag....

圖2.1HSFER技術(shù)的原理圖

第2章HSFER方法在X射線間接成像中的應(yīng)用15低頻分量，許多有用的信息被轉(zhuǎn)換成傳輸波并傳遞給后續(xù)的光學(xué)系統(tǒng)。為了獲得較高的圖像保真度，采用非金屬材料的結(jié)構(gòu)作為二維編碼器，避免了金屬表面SPP引起的圖像失真[71]。圖2.1HSFER技術(shù)的原理圖。采用二維編碼器對(duì)閃爍體中的圖像進(jìn)....

圖2.2(a)中虛線、虛線和實(shí)心曲線下方的區(qū)域表示參數(shù)區(qū)域，允許分別在600nm、450nm和300nm的2D編碼器周期中發(fā)生+1級(jí)衍射

第2章HSFER方法在X射線間接成像中的應(yīng)用19其中sin等于數(shù)值孔徑。參數(shù)計(jì)算的準(zhǔn)確結(jié)果由矢量衍射理論給出，如圖2.2所示。在實(shí)際應(yīng)用中，截止頻率fc是由攝像機(jī)的等效像素大小決定的，在我們的實(shí)驗(yàn)裝置中估計(jì)為（1.3m）-1。圖2.2(a)中虛線、虛線和實(shí)心曲線下方的區(qū)域表示參數(shù)....

圖2.3光子晶體制造工藝示意圖（a-h）

第2章HSFER方法在X射線間接成像中的應(yīng)用21后，在1.5g硝酸鈰銨、1.5g濃硝酸（65%）和7g去離子水制備的鉻酸溶液中放置含Cr層的閃爍體薄膜10s，從而去除鉻層。然后用去離子水沖洗閃爍體薄膜并用氮?dú)飧稍�。之后，在MIBK:IPA（1:3）光刻膠中浸泡PMMA層閃爍體45....

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