表面調(diào)控對(duì)碳納米點(diǎn)發(fā)光性能的影響及應(yīng)用研究
發(fā)布時(shí)間:2021-07-09 08:26
發(fā)光碳納米點(diǎn)是近十幾年來發(fā)展起來的一種重要的熒光材料。大量研究表明其具有良好的光穩(wěn)定性、優(yōu)異的熒光性質(zhì)、低廉的制備成本以及良好的生物相容性等優(yōu)勢(shì),在生物成像、傳感、催化、光電器件及照明等領(lǐng)域具有潛在的應(yīng)用價(jià)值。經(jīng)過十幾年的研究,碳納米點(diǎn)在合成、機(jī)理與應(yīng)用等方面取得了很大的進(jìn)展。然而,仍有多個(gè)關(guān)鍵問題有待解決,如碳納米點(diǎn)的表面態(tài)對(duì)其發(fā)光的影響,聚集誘導(dǎo)熒光淬滅等。針對(duì)以上問題,本文以碳納米點(diǎn)為研究對(duì)象,圍繞其合成,發(fā)光性能,表面處理對(duì)其發(fā)光的影響及碳納米點(diǎn)應(yīng)用領(lǐng)域的拓展開展了以下研究工作:1.探索解決碳納米點(diǎn)聚集誘導(dǎo)淬滅的新手段。開發(fā)了一種直接的表面處理方法來克服聚集誘導(dǎo)的熒光淬滅,將原本固態(tài)下熒光淬滅的藍(lán)光碳納米點(diǎn)加入到過氧化氫溶液中進(jìn)行加熱處理,制得可直接在固態(tài)下發(fā)光的碳納米點(diǎn),這種處理后的碳納米點(diǎn)在溶液態(tài)發(fā)藍(lán)光,在固態(tài)下發(fā)熒光量子效率為25%的黃綠光。過氧化氫處理后的碳納米點(diǎn)因?yàn)楸砻嫣幚慝@得了較寬帶隙的表面能級(jí)結(jié)構(gòu),抑制了在聚集態(tài)下由于表面態(tài)發(fā)生的無輻射躍遷過程。實(shí)現(xiàn)了純碳納米點(diǎn)粉末的固態(tài)發(fā)光并且擁有聚集誘導(dǎo)紅移與增強(qiáng)發(fā)光的特性。不同于大多數(shù)研究中利用基質(zhì)摻雜的方式,本方法是利用表...
【文章來源】:中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所)吉林省
【文章頁數(shù)】:103 頁
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【部分圖文】:
碳納米點(diǎn)的兩類合成方法
表面調(diào)控對(duì)碳納米點(diǎn)發(fā)光性能的影響及應(yīng)用研究8圖1.2碳納米點(diǎn)的透射電子顯微鏡圖像,插圖為高分辨透射電鏡圖像與碳納米點(diǎn)的粒徑分布柱狀圖。Figure1.2TEMimageofCDs,insetsshowHRTEMimageandsizedistributionhistograms.掃描電子顯微鏡(SEM):SEM與TEM都是利用電子取代光,與物質(zhì)相互作用,使其成像,兩者成像電子不同。碳納米點(diǎn)一般尺寸在10納米以下,而SEM由于分辨率最低為5~10納米,無法像TEM一樣直接觀測(cè)到碳納米點(diǎn)的個(gè)體,在SEM測(cè)試中難以得到清晰的圖像。因此,在碳納米點(diǎn)研究領(lǐng)域,一般SEM起輔助作用,對(duì)聚集態(tài)下的碳納米點(diǎn)或者復(fù)合物顆粒進(jìn)行形貌表征。圖1.3碳納米點(diǎn)粉末的掃描電子顯微鏡圖像。Figure1.3SEMimageofCDspowder.原子力顯微鏡(AFM):AFM是在納米尺度操作材料,及其成像和測(cè)量最重要的工具。信息是通過微懸臂感受和懸臂上尖細(xì)探針的表面的“感覺”來收集的,
表面調(diào)控對(duì)碳納米點(diǎn)發(fā)光性能的影響及應(yīng)用研究8圖1.2碳納米點(diǎn)的透射電子顯微鏡圖像,插圖為高分辨透射電鏡圖像與碳納米點(diǎn)的粒徑分布柱狀圖。Figure1.2TEMimageofCDs,insetsshowHRTEMimageandsizedistributionhistograms.掃描電子顯微鏡(SEM):SEM與TEM都是利用電子取代光,與物質(zhì)相互作用,使其成像,兩者成像電子不同。碳納米點(diǎn)一般尺寸在10納米以下,而SEM由于分辨率最低為5~10納米,無法像TEM一樣直接觀測(cè)到碳納米點(diǎn)的個(gè)體,在SEM測(cè)試中難以得到清晰的圖像。因此,在碳納米點(diǎn)研究領(lǐng)域,一般SEM起輔助作用,對(duì)聚集態(tài)下的碳納米點(diǎn)或者復(fù)合物顆粒進(jìn)行形貌表征。圖1.3碳納米點(diǎn)粉末的掃描電子顯微鏡圖像。Figure1.3SEMimageofCDspowder.原子力顯微鏡(AFM):AFM是在納米尺度操作材料,及其成像和測(cè)量最重要的工具。信息是通過微懸臂感受和懸臂上尖細(xì)探針的表面的“感覺”來收集的,
本文編號(hào):3273398
【文章來源】:中國科學(xué)院大學(xué)(中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所)吉林省
【文章頁數(shù)】:103 頁
【學(xué)位級(jí)別】:博士
【部分圖文】:
碳納米點(diǎn)的兩類合成方法
表面調(diào)控對(duì)碳納米點(diǎn)發(fā)光性能的影響及應(yīng)用研究8圖1.2碳納米點(diǎn)的透射電子顯微鏡圖像,插圖為高分辨透射電鏡圖像與碳納米點(diǎn)的粒徑分布柱狀圖。Figure1.2TEMimageofCDs,insetsshowHRTEMimageandsizedistributionhistograms.掃描電子顯微鏡(SEM):SEM與TEM都是利用電子取代光,與物質(zhì)相互作用,使其成像,兩者成像電子不同。碳納米點(diǎn)一般尺寸在10納米以下,而SEM由于分辨率最低為5~10納米,無法像TEM一樣直接觀測(cè)到碳納米點(diǎn)的個(gè)體,在SEM測(cè)試中難以得到清晰的圖像。因此,在碳納米點(diǎn)研究領(lǐng)域,一般SEM起輔助作用,對(duì)聚集態(tài)下的碳納米點(diǎn)或者復(fù)合物顆粒進(jìn)行形貌表征。圖1.3碳納米點(diǎn)粉末的掃描電子顯微鏡圖像。Figure1.3SEMimageofCDspowder.原子力顯微鏡(AFM):AFM是在納米尺度操作材料,及其成像和測(cè)量最重要的工具。信息是通過微懸臂感受和懸臂上尖細(xì)探針的表面的“感覺”來收集的,
表面調(diào)控對(duì)碳納米點(diǎn)發(fā)光性能的影響及應(yīng)用研究8圖1.2碳納米點(diǎn)的透射電子顯微鏡圖像,插圖為高分辨透射電鏡圖像與碳納米點(diǎn)的粒徑分布柱狀圖。Figure1.2TEMimageofCDs,insetsshowHRTEMimageandsizedistributionhistograms.掃描電子顯微鏡(SEM):SEM與TEM都是利用電子取代光,與物質(zhì)相互作用,使其成像,兩者成像電子不同。碳納米點(diǎn)一般尺寸在10納米以下,而SEM由于分辨率最低為5~10納米,無法像TEM一樣直接觀測(cè)到碳納米點(diǎn)的個(gè)體,在SEM測(cè)試中難以得到清晰的圖像。因此,在碳納米點(diǎn)研究領(lǐng)域,一般SEM起輔助作用,對(duì)聚集態(tài)下的碳納米點(diǎn)或者復(fù)合物顆粒進(jìn)行形貌表征。圖1.3碳納米點(diǎn)粉末的掃描電子顯微鏡圖像。Figure1.3SEMimageofCDspowder.原子力顯微鏡(AFM):AFM是在納米尺度操作材料,及其成像和測(cè)量最重要的工具。信息是通過微懸臂感受和懸臂上尖細(xì)探針的表面的“感覺”來收集的,
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