無壓浸滲法制備β-SiC/Al電子封裝材料及其性能研究
發(fā)布時間:2024-03-10 03:22
SiCp/Al復合材料具有高導熱、低膨脹、高模量、低密度等優(yōu)異的綜合性能,在電子封裝領域具有廣闊的應用前景。目前廣泛采用的SiCp/Al復合材料的制備方法為工藝復雜、設備昂貴的壓力浸滲。由于無壓浸滲技術(shù)具有工藝簡單,成本低廉等優(yōu)點,本文采用無壓浸滲法在空氣環(huán)境下,制備出了β-SiCp/Al復合材料,并對復合材料的微觀組織和元素分布進行了觀察和分析;討論了潤濕性原理和無壓浸滲方法的機理;研究了Mg、Si元素對無壓浸滲過程的影響;測試了不同工藝下β-SiCp/Al復合材料的熱導率、熱膨脹系數(shù)等熱物理性能;并研究了SiC顆粒體積含量,粒徑大小對復合材料熱物理性能的影響。 研究表明,無壓浸滲法制備β-SiCp/Al復合材料的關鍵在于β-SiCp/Al界面潤濕的轉(zhuǎn)變,碳化硅的氧化處理對β-SiCp/Al界面的潤濕性轉(zhuǎn)變起著重要的作用;在鋁合金基體中添加適量的Mg,會在界面處與SiO2參與反應生成MgAl2
【文章頁數(shù)】:75 頁
【學位級別】:碩士
【部分圖文】:
本文編號:3924165
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