光學(xué)相干層析技術(shù)在電工膠帶檢驗(yàn)中的實(shí)驗(yàn)研究
【學(xué)位單位】:中國(guó)人民公安大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類】:D918.9
【部分圖文】:
圖 1 OCT 原理圖CT 技術(shù)分類CT 技術(shù)隨著半導(dǎo)體材料的升級(jí)發(fā)展和超快激光技術(shù)的進(jìn)步,系統(tǒng)設(shè)計(jì)越來(lái)越為了滿足不同的研究需要發(fā)展成不同的類別。從最基礎(chǔ)的時(shí)域 OCT 發(fā)展到快頻域 OCT,在這兩種 OCT 的基礎(chǔ)上,又發(fā)明出更加快捷的全場(chǎng) OCT,隨著人不斷增多,又產(chǎn)生了針對(duì)不同功能需要的功能OCT。域 OCT域OCT(Time Domain OCT,TD-OCT)[7]是早期OCT 系統(tǒng)最常采用的設(shè)計(jì),出現(xiàn)的 OCT 系統(tǒng)。其工作原理圖如圖 2 所示。時(shí)域 OCT 是通過(guò)掃描參考臂的到沿著深度方向掃描樣品的目的,這種掃描方式也被稱為 A-scan。樣品的橫向由樣品臂中的掃描振鏡完成的,當(dāng)掃描振鏡進(jìn)行一維方向的掃描時(shí),系統(tǒng)可以品的二維 OCT 圖像,也被稱為 B-scan;當(dāng)掃描振鏡進(jìn)行二維方向的掃描時(shí),獲取樣品的三維 OCT 圖像。由于參考臂的前后掃描,干涉信號(hào)受到一定頻率
圖 2 時(shí)域 OCT 原理圖Spectral Domain OCT,SD-OCT )[8]參考臂省去了時(shí)域OC[9],探測(cè)器探測(cè)的不再是干涉信號(hào),而是干涉的光譜信息,它深度方向的干涉光譜信號(hào),對(duì)此光譜信息進(jìn)行傅里葉變換就可由于頻域 OCT 掃描及成像速度快,它在市場(chǎng)中迅速占據(jù)了主譜信號(hào)的方式不同,頻域 OCT 又分為光譜頻域 OCT(Spect)和掃頻 OCT(Swept Source OCT,SS-OCT)。SD-OCT 是基干涉信號(hào)通過(guò)光柵和透鏡組成的光譜儀分光,再聚焦在線陣電ed Device,CCD)上獲取干涉光譜。相比 TD-OCT,其相位得到了極大的提高。SS-OCT 則是基于掃頻光源獲得干涉光譜隨時(shí)間高速掃描的掃頻光源,再通過(guò)探測(cè)器記錄下每一波長(zhǎng)的
和方法器及條件所用的實(shí)驗(yàn)設(shè)備是由公安部物證鑒定中心現(xiàn)場(chǎng)物證溯源技術(shù)國(guó)家工9]。實(shí)驗(yàn)利用一套光纖化頻域 OCT 系統(tǒng),系統(tǒng)基礎(chǔ)構(gòu)成是一套邁圖見(jiàn)圖 3。光源發(fā)出的光在分束器處被分成兩束,一束進(jìn)入樣品臂,兩束光在遇到物體時(shí)返回,并相互干涉,產(chǎn)生的干涉信號(hào)被
【參考文獻(xiàn)】
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本文編號(hào):2844470
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