EDXRF測(cè)定銅鉬含量的濾光片優(yōu)化選擇
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【部分圖文】:
圖1X光管原級(jí)譜
在使用X射線管激發(fā)樣品時(shí),構(gòu)成待測(cè)元素背景的主要來(lái)源是X射線原級(jí)譜的散射射線。使用鎢靶作為靶材,它的原級(jí)譜見(jiàn)圖1。鎢的能量特征峰為8.4和9.67keV,Pb的能量特征峰為12.61keV,待測(cè)元素Cu的能量特征峰為8.05和8.9keV,Mo的能量特征峰為17....
圖2不同厚度銀濾片對(duì)比
蒙特卡洛模擬結(jié)果如圖2所示。Ag作濾片時(shí),厚度采用0.2和0.1mm對(duì)比發(fā)現(xiàn),前者對(duì)測(cè)銅元素效果較好,測(cè)量鉬元素時(shí),厚度為0.1mm的濾片比0.2mm的濾片本底高。
圖3兩種厚度銅鉬濾片對(duì)比
Ag作濾片時(shí),厚度采用0.2和0.1mm對(duì)比發(fā)現(xiàn),前者對(duì)測(cè)銅元素效果較好,測(cè)量鉬元素時(shí),厚度為0.1mm的濾片比0.2mm的濾片本底高。使用Cu+Mo作濾片時(shí),厚度采用0.02Cu+0.1Mo(mm)和0.01Cu+0.05Mo(mm)對(duì)比發(fā)現(xiàn),前者測(cè)量....
圖4兩種厚度鈦濾片對(duì)比
使用Cu+Mo作濾片時(shí),厚度采用0.02Cu+0.1Mo(mm)和0.01Cu+0.05Mo(mm)對(duì)比發(fā)現(xiàn),前者測(cè)量銅元素時(shí)本底較低,測(cè)量鉬元素時(shí),兩種厚度的濾片本底都很高。使用Ti作濾片時(shí),厚度為1和0.5mm對(duì)比發(fā)現(xiàn),0.5mm濾片在測(cè)銅元素的本底也....
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