在使用能量色散X射線熒光光譜儀定量分析鉬銅礦中低含量Cu和Mo元素過程中, X光管的原級譜對測量結(jié)果影響非常大。為了降低這一影響,采用蒙特卡洛軟件模擬了用Ag, Cu和Mo, Ti三種材質(zhì)的濾片,在不同厚度情況下對原級譜的影響。模擬結(jié)果顯示, 1 mm Ti濾片測銅鉬元素效果優(yōu)于0.2 mm Ag濾片、 0.02 mm Cu和0.1 mm Mo濾片。根據(jù)模擬結(jié)果,在實(shí)驗(yàn)室用三種濾片對樣品進(jìn)行了實(shí)測,譜線圖對比顯示,用Cu+Mo作濾片測鉬元素時,本底計數(shù)大于200,用Ag和Ti作濾片測鉬元素,幾乎沒有本底影響。但相同的樣品,用Ti作濾片測得鉬最高計數(shù)為800左右,而用Ag作濾片時測得鉬最高計數(shù)為300左右。由此可見,用Ti作濾片測鉬元素時, X光管原級譜對被測量元素的干擾影響小,其本底低于用銀濾片和銅鉬濾片。Ti濾片在降低本底影響的同時,鉬的計數(shù)率最高,說明射線強(qiáng)度損失最少。用Cu+Mo作濾片測銅元素時,銅最高計數(shù)為300,用Ag作濾片時銅最高計數(shù)為180左右,而用Ti作濾片銅最高計數(shù)為500左右。由此可見,在銅元素含量較低時,用Ti作濾片測銅元素,銅的計數(shù)率最高,射線強(qiáng)度損失最少。通過...

【文章頁數(shù)】：6 頁

【部分圖文】：

圖1X光管原級譜

在使用X射線管激發(fā)樣品時,構(gòu)成待測元素背景的主要來源是X射線原級譜的散射射線。使用鎢靶作為靶材,它的原級譜見圖1。鎢的能量特征峰為8.4和9.67keV,Pb的能量特征峰為12.61keV,待測元素Cu的能量特征峰為8.05和8.9keV,Mo的能量特征峰為17....

圖2不同厚度銀濾片對比

蒙特卡洛模擬結(jié)果如圖2所示。Ag作濾片時,厚度采用0.2和0.1mm對比發(fā)現(xiàn),前者對測銅元素效果較好,測量鉬元素時,厚度為0.1mm的濾片比0.2mm的濾片本底高。

圖3兩種厚度銅鉬濾片對比

Ag作濾片時,厚度采用0.2和0.1mm對比發(fā)現(xiàn),前者對測銅元素效果較好,測量鉬元素時,厚度為0.1mm的濾片比0.2mm的濾片本底高。使用Cu+Mo作濾片時,厚度采用0.02Cu+0.1Mo(mm)和0.01Cu+0.05Mo(mm)對比發(fā)現(xiàn),前者測量....

圖4兩種厚度鈦濾片對比

使用Cu+Mo作濾片時,厚度采用0.02Cu+0.1Mo(mm)和0.01Cu+0.05Mo(mm)對比發(fā)現(xiàn),前者測量銅元素時本底較低,測量鉬元素時,兩種厚度的濾片本底都很高。使用Ti作濾片時,厚度為1和0.5mm對比發(fā)現(xiàn),0.5mm濾片在測銅元素的本底也....

本文編號：3952955