鋁電解質(zhì)初晶溫度檢測裝置的設(shè)計
【圖文】:
衡的速度冷卻,觀察并記錄冷卻過程中溫度隨時間的變化,繪制不同組成試樣的冷卻曲逡逑線,,以溫度為橫坐標(biāo),組份為縱坐標(biāo),將冷卻曲線上的轉(zhuǎn)折點(diǎn)和停頓點(diǎn)相應(yīng)的溫度轉(zhuǎn)移逡逑到“組份-溫度”圖上,這些轉(zhuǎn)折點(diǎn)和停頓點(diǎn)即為該成分的初晶溫度。如圖2.2中的tl、逡逑t2、t3、t4和t5分別為純物質(zhì)Bi、組成為A、組成為B、組成為C和Cd純物質(zhì)的初晶逡逑溫度。該方法人為干預(yù)少,也可以固定其實(shí)驗的環(huán)境,因此獲取的初晶溫度較為準(zhǔn)確。逡逑\邐\邐^邐Bi(s)+(s)逡逑時間邐Bi邐Cd逡逑冷卻曲線邐Bi-Cd系統(tǒng)的相圖逡逑圖2.2Bi-Cd體系冷卻曲線逡逑Fig.邋2.2邋Bi-Cd邋system邋cooling邋curve逡逑第三種方法是差熱分析法,原理就是在一定溫度下以同樣的速率加熱或者冷卻樣品逡逑和基準(zhǔn)體(在加熱或冷卻過程中不發(fā)生相變或其他變化的物質(zhì)),記錄它們的溫度差。逡逑溫差的產(chǎn)生是由于發(fā)生相變或其他變化產(chǎn)生熱效應(yīng)的結(jié)果。測試方法是將兩根材質(zhì)和均逡逑勻性相同的熱電偶分別插入試樣和基準(zhǔn)體中,并將兩支熱電偶的冷端的一個同級(常是逡逑正極)相連,另一端和測量儀表相連,如果試樣在加熱或冷卻過程中產(chǎn)生熱效應(yīng),線路逡逑中將產(chǎn)生電勢差,并將該電勢轉(zhuǎn)化為溫度,然后以溫度為橫坐標(biāo),溫度差為縱坐標(biāo)作圖,逡逑從曲線上就可以找到電解質(zhì)初晶溫度。該方法的優(yōu)點(diǎn)是人為誤差小,實(shí)驗準(zhǔn)確,但是價逡逑格相對比較昂貴
東北大學(xué)碩士學(xué)位論文邐第2章系統(tǒng)需求分析及方案設(shè)計逡逑鋁電解質(zhì)會析出晶體,因相變潛熱的存在致使系統(tǒng)降溫趨勢發(fā)生變化,當(dāng)系統(tǒng)降溫緩慢逡逑而結(jié)晶放熱量大時,步冷曲線會出現(xiàn)平臺或者轉(zhuǎn)折點(diǎn),采用高溫傳感器測量溫度,同時逡逑記錄溫度變化曲線,測出第一相變點(diǎn)的溫度就是鋁電解質(zhì)溫度。逡逑測量鋁電解質(zhì)溫度的測量探頭如下圖2.2所示:逡逑?逡逑
【學(xué)位授予單位】:東北大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2017
【分類號】:TF821
【參考文獻(xiàn)】
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