高鹽是限制植物生長和發(fā)育的重要非生物脅迫因子。以耐鹽小麥RH8706-49根部基因表達譜芯片結果為基礎,利用電子克隆和RT-PCR方法克隆了一個鹽脅迫時上調(diào)表達的基因,命名為TaRSTR（登錄號:EU263918）。熒光定量PCR分析證實該基因受鹽脅迫誘導表達,亞細胞定位結果顯示TaRSTR蛋白定位在細胞核里。TaRSTR過表達提高了轉基因擬南芥在鹽脅迫下的種子萌發(fā)率及成年植株的耐受性。TaRSTR基因過表達可顯著提高已知耐鹽相關基因At FRY1、At P5CS1和AtRD29B的表達量,推測TaRSTR基因通過這些標記基因提高了轉基因擬南芥的耐鹽性。上述結果表明TaRSTR基因過表達能提高植株的耐鹽性,是植物耐鹽的正調(diào)節(jié)子。 

【文章來源】：山東農(nóng)業(yè)科學. 2020,52(01)

【文章頁數(shù)】：7 頁

【部分圖文】：

鹽脅迫下TaRSTR過表達轉基因擬南芥的種子萌發(fā)率

鹽脅迫下TaRSTR過表達轉基因擬南芥的表型

耐逆相關標記基因在TaRSTR過表達轉基因擬南芥中的表達

【參考文獻】：
期刊論文
[1]利用基因芯片研究小麥耐鹽突變體鹽脅迫條件下基因的表達圖譜[J]. 趙寶存,趙芊,葛榮朝,沈銀柱,黃占景.  中國農(nóng)業(yè)科學. 2007(10)
[2]小麥耐鹽相關基因TaSTK的克隆[J]. 葛榮朝,趙寶存,陳桂平,秘彩莉,沈銀柱,黃占景.  作物學報. 2007(05)



本文編號：3584059