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卷云對新型光度計測量大氣光學(xué)厚度的影響

發(fā)布時間:2023-04-05 07:51
  基于自行研制的一種自動快速變視場太陽光度計(VFOVSP),實現(xiàn)了不同視場內(nèi)太陽輻射的快速測量,為地基區(qū)分氣溶膠粒子與云粒子提供了一個新的技術(shù)手段。新型光度計采用基于CCD圖像傳感器的太陽跟蹤技術(shù),并采用程控可變視場光闌,實現(xiàn)了在較短的時間間隔內(nèi)對不同視場值的快速測量。通過在不同的天氣條件下,對儀器不同視場測量數(shù)據(jù)分析初步表明:通過比較不同視場測量的大氣光學(xué)厚度的變化,可提供一種薄卷云與氣溶膠的區(qū)分技術(shù)。該方法可以較快地識別出當(dāng)前大氣環(huán)境中是否有卷云存在,為研究卷云特性提供了基礎(chǔ)。

【文章頁數(shù)】:7 頁

【文章目錄】:
1 引言
2 儀器介紹
3 測量原理
4 測量數(shù)據(jù)與分析
5 結(jié)果與討論



本文編號:3783043

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