采用單光子技術(shù)中的延遲符合法原理,搭建了一套閃爍體衰減時(shí)間常數(shù)測(cè)量系統(tǒng)。選取國(guó)產(chǎn)的Ce∶LYSO和Ce∶LuAG兩種閃爍體各3條進(jìn)行衰減時(shí)間測(cè)量,將測(cè)試得到的衰減時(shí)間常數(shù)曲線進(jìn)行單指數(shù)擬合,計(jì)算可得,Ce∶LYSO和Ce∶LuAG發(fā)光衰減時(shí)間常數(shù)平均值分別為43.85 ns及56.02 ns。結(jié)果表明,該套裝置的測(cè)試結(jié)果與國(guó)內(nèi)外同行其他測(cè)量方法得到的結(jié)果基本一致。

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【部分圖文】：

圖1單光子延遲符合法測(cè)試系統(tǒng)原理圖

圖1為單光子延遲符合法測(cè)試系統(tǒng)基本原理。利用放射源產(chǎn)生γ線,使用兩路探頭,一路使用待測(cè)閃爍體的一個(gè)端面與光電倍增管1(PMT1)耦合產(chǎn)生一個(gè)快速脈沖,通過(guò)后續(xù)的快前放1、延遲器1和恒比定時(shí)器1(CFD1)產(chǎn)生一個(gè)同步信號(hào),作為啟動(dòng)信號(hào);另外一路使用待測(cè)閃爍體的另一個(gè)端面通過(guò)小孔準(zhǔn)....

圖2單光子延遲符合法測(cè)試設(shè)備

圖2為單光子延遲符合法測(cè)試系統(tǒng),由樣品室、電子學(xué)系統(tǒng)及軟件系統(tǒng)組成。樣品室實(shí)現(xiàn)輻射源、閃爍體固定及光電倍增管探測(cè);電子學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高壓供電、前置放大、延遲、恒比定時(shí)及符合測(cè)量;軟件系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)參數(shù)設(shè)置和時(shí)間譜測(cè)量,獲得時(shí)間譜測(cè)量的數(shù)據(jù)和曲線。2衰減時(shí)間常數(shù)測(cè)試及結(jié)果

圖3Ce∶LYSO的PMT輸出信號(hào)

將Ce∶LYSO在樣品室內(nèi)安裝固定好,使用137Cs放射源產(chǎn)生γ線,用示波器測(cè)量PMT1和PMT2的輸出信號(hào),如圖3所示。由圖可知,PMT1輸出為脈沖信號(hào),幅值約150mV;PMT2輸出為單光子信號(hào),幅值約30mV。在軟件界面設(shè)置時(shí)間窗口范圍為200ns;開(kāi)始通道恒比定時(shí)....

圖4Ce∶LYSO衰減時(shí)間常數(shù)測(cè)試曲線

在軟件界面設(shè)置時(shí)間窗口范圍為200ns;開(kāi)始通道恒比定時(shí)器過(guò)零電壓為20mV,恒比定時(shí)器比較閾值電壓為75mV;結(jié)束通道恒比定時(shí)器過(guò)零電壓為5mV,恒比定時(shí)器比較閾值電壓為15mV。測(cè)試得到1#、2#、3#Ce∶LYSO閃爍體衰減時(shí)間常數(shù)曲線如4所示。2.2Ce∶....

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