針對(duì)基于SRAM型FPGA實(shí)現(xiàn)的系統(tǒng)的單粒子效應(yīng)敏感度評(píng)估,采用北京放射性核束裝置CYCIAE-100回旋加速器提供的中能質(zhì)子進(jìn)行輻照試驗(yàn)研究。以典型SRAM型FPGA器件XC4VSX55為試驗(yàn)樣品,獲得其本征單粒子翻轉(zhuǎn)截面以及特定應(yīng)用下的翻轉(zhuǎn)位數(shù)與功能錯(cuò)誤數(shù)的比例關(guān)系;并將結(jié)果與在瑞士PSI質(zhì)子輻照裝置獲得的試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較。此外,提出針對(duì)基于SRAM型FPGA實(shí)現(xiàn)的系統(tǒng)的兩步驟單粒子翻轉(zhuǎn)敏感度評(píng)估方法,可以定量評(píng)估器件在軌功能錯(cuò)誤數(shù)。本工作同時(shí)表明CYCIAE-100提供的長(zhǎng)射程的質(zhì)子,對(duì)于倒裝器件的單粒子翻轉(zhuǎn)敏感度評(píng)估具有重要價(jià)值。

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