在慣性約束聚變光譜診斷物理實(shí)驗(yàn)研究中,晶體衍射后X射線光譜信號(hào)較弱,需要高收光效率及寬頻譜范圍的光譜診斷儀器.在傳統(tǒng)錐面彎曲晶體基礎(chǔ)上提出變曲率彎晶多能點(diǎn)成像技術(shù),該技術(shù)具有寬頻譜范圍、強(qiáng)聚焦能力、高光譜分辨的特點(diǎn).在晶體衍射成像結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)中,由于能夠確保成像光線的旋轉(zhuǎn)對(duì)稱性,因此在原理上可消除傳統(tǒng)彎晶X射線衍射成像像差.利用研制的變曲率面石英晶體對(duì)鈦靶X射線源進(jìn)行X射線聚焦檢測(cè),并與同種材料的平面晶體進(jìn)行收光效率對(duì)比,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明該變曲率面石英晶體的收光效率可以達(dá)到平面石英晶體的100倍,檢測(cè)X射線能量范圍為4.51～5.14keV.該晶體譜儀結(jié)合X射線條紋相機(jī)能夠檢測(cè)寬頻譜范圍的微弱X射線信號(hào),條紋相機(jī)探測(cè)面可與晶體檢測(cè)光路方向垂直布局. 

【文章頁數(shù)】：8 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 寬頻譜彎曲晶體譜儀
    1.1 圓柱與圓錐面晶體譜儀
    1.2 變曲率面晶體檢測(cè)原理
    1.3 晶體面形誤差影響分析
2 變曲率面晶體X射線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)與結(jié)果
3 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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[3]用極化晶體譜儀探測(cè)X射線極化度[J]. 施軍,肖沙里,王洪建,唐昶環(huán),錢家渝.  光子學(xué)報(bào). 2009(02)



本文編號(hào)：3686708