在慣性約束聚變光譜診斷物理實驗研究中,晶體衍射后X射線光譜信號較弱,需要高收光效率及寬頻譜范圍的光譜診斷儀器.在傳統(tǒng)錐面彎曲晶體基礎(chǔ)上提出變曲率彎晶多能點成像技術(shù),該技術(shù)具有寬頻譜范圍、強(qiáng)聚焦能力、高光譜分辨的特點.在晶體衍射成像結(jié)構(gòu)設(shè)計中,由于能夠確保成像光線的旋轉(zhuǎn)對稱性,因此在原理上可消除傳統(tǒng)彎晶X射線衍射成像像差.利用研制的變曲率面石英晶體對鈦靶X射線源進(jìn)行X射線聚焦檢測,并與同種材料的平面晶體進(jìn)行收光效率對比,實驗結(jié)果表明該變曲率面石英晶體的收光效率可以達(dá)到平面石英晶體的100倍,檢測X射線能量范圍為4.51～5.14keV.該晶體譜儀結(jié)合X射線條紋相機(jī)能夠檢測寬頻譜范圍的微弱X射線信號,條紋相機(jī)探測面可與晶體檢測光路方向垂直布局. 

【文章頁數(shù)】：8 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 寬頻譜彎曲晶體譜儀
    1.1 圓柱與圓錐面晶體譜儀
    1.2 變曲率面晶體檢測原理
    1.3 晶體面形誤差影響分析
2 變曲率面晶體X射線檢測實驗與結(jié)果
3 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
[1]用于軟X射線圖像診斷的CMOS探測系統(tǒng)[J]. 韋敏習(xí),侯立飛,楊國洪,劉慎業(yè).  強(qiáng)激光與粒子束. 2014(12)
[2]極化X光譜診斷鋁激光等離子體的電子密度[J]. 王洪建,肖沙里,施軍.  光子學(xué)報. 2011(08)
[3]用極化晶體譜儀探測X射線極化度[J]. 施軍,肖沙里,王洪建,唐昶環(huán),錢家渝.  光子學(xué)報. 2009(02)



本文編號：3686708