基于樣本空間排序法的電子器件抗瞬時電離輻射性能評估方法
發(fā)布時間:2022-10-05 20:23
針對瞬時電離輻射效應(yīng)考核中應(yīng)用經(jīng)典非參數(shù)法存在信息利用率低,評價結(jié)果過于保守的問題,本文在識別出瞬時電離輻射效應(yīng)數(shù)據(jù)在統(tǒng)計意義上屬于Ⅰ型區(qū)間刪失數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上,利用樣本空間排序法,開展電子器件抗瞬時電離輻射性能評估研究。首先,基于無失效數(shù)據(jù)開展了理論分析和實例計算,并將計算結(jié)果與經(jīng)典非參數(shù)法的計算結(jié)果進行了對比,結(jié)果表明,樣本空間排序法提高了信息利用率,不僅可以增大生存概率置信下限,而且將置信下限所對應(yīng)的吸收劑量率上限從最小值增大到幾何平均值。其次,開展了失效分布模型的試驗研究,根據(jù)瞬時電離輻射效應(yīng)特點,提出以Ⅱ型區(qū)間刪失數(shù)據(jù)為數(shù)據(jù)源獲取經(jīng)驗生存函數(shù),通過最小二乘法擬合經(jīng)驗生存函數(shù)用于計算相關(guān)系數(shù),根據(jù)相關(guān)系數(shù)及對失效機理的分析,認為商用靜態(tài)存儲器翻轉(zhuǎn)效應(yīng)服從對數(shù)正態(tài)分布的可能性最大。最后,基于再抽樣技術(shù)的蒙特卡羅模擬結(jié)果表明,樣本空間排序法在高生存概率區(qū)間的計算結(jié)果具有保守性。
【文章頁數(shù)】:7 頁
【文章目錄】:
1 數(shù)據(jù)類型識別
2 優(yōu)異性
2.1 理論分析
2.2 實例計算
3 失效分布模型
3.1 經(jīng)驗生存函數(shù)的獲取
3.2 相關(guān)系數(shù)計算
3.3 失效分布模型的確定
4 保守性
5 結(jié)論
【參考文獻】:
期刊論文
[1]0.18μm CMOS電路瞬時劑量率效應(yīng)實驗研究[J]. 王桂珍,林東生,齊超,白小燕,楊善潮,李瑞賓,馬強,金曉明,劉巖. 原子能科學技術(shù). 2014(11)
[2]樣本空間排序法評價瞬時輻照無失效數(shù)據(jù)研究[J]. 白小燕,林東生,王桂珍,李瑞賓,馬強,齊超. 強激光與粒子束. 2013(10)
[3]Ⅰ型區(qū)間刪失數(shù)據(jù)下產(chǎn)品可靠度的置信下限[J]. 魏中鵬,陳家鼎. 應(yīng)用數(shù)學學報. 2006(01)
[4]關(guān)于無失效數(shù)據(jù)情形下的置信限[J]. 陳家鼎,孫萬龍,李補喜. 應(yīng)用數(shù)學學報. 1995(01)
本文編號:3686446
【文章頁數(shù)】:7 頁
【文章目錄】:
1 數(shù)據(jù)類型識別
2 優(yōu)異性
2.1 理論分析
2.2 實例計算
3 失效分布模型
3.1 經(jīng)驗生存函數(shù)的獲取
3.2 相關(guān)系數(shù)計算
3.3 失效分布模型的確定
4 保守性
5 結(jié)論
【參考文獻】:
期刊論文
[1]0.18μm CMOS電路瞬時劑量率效應(yīng)實驗研究[J]. 王桂珍,林東生,齊超,白小燕,楊善潮,李瑞賓,馬強,金曉明,劉巖. 原子能科學技術(shù). 2014(11)
[2]樣本空間排序法評價瞬時輻照無失效數(shù)據(jù)研究[J]. 白小燕,林東生,王桂珍,李瑞賓,馬強,齊超. 強激光與粒子束. 2013(10)
[3]Ⅰ型區(qū)間刪失數(shù)據(jù)下產(chǎn)品可靠度的置信下限[J]. 魏中鵬,陳家鼎. 應(yīng)用數(shù)學學報. 2006(01)
[4]關(guān)于無失效數(shù)據(jù)情形下的置信限[J]. 陳家鼎,孫萬龍,李補喜. 應(yīng)用數(shù)學學報. 1995(01)
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