發(fā)布時(shí)間：2021-08-13 15:48

　　基于Tikhonov正則化法,以單層、雙層以及三層屏蔽的¹⁵²Eu點(diǎn)源為例,對(duì)γ多層屏蔽材料厚度進(jìn)行了反解研究。結(jié)果表明:Tikhonov正則化法能夠給出比最小二乘法更穩(wěn)定且可靠的計(jì)算結(jié)果。相對(duì)于線性吸收系數(shù)的計(jì)算與測(cè)量值的偏差,γ特征譜線的選取是影響反解結(jié)果的主要因素。 

【文章來(lái)源】：核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù). 2020,40(01)北大核心

【文章頁(yè)數(shù)】：5 頁(yè)

【部分圖文】：

圖１?１５２Ｅｕ?７譜線在不同材料中的線性吸收系數(shù)??

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3340708