本文研究阻塞計樣機的誤差假設、來源分析和誤差評定。從阻塞計阻塞孔的加工誤差、阻塞溫度的測量誤差、阻塞孔冷卻速率的控制誤差等來源對阻塞計的測量誤差進行評定,評價的結論為研發(fā)的阻塞計的測量誤差能夠滿足要求。 

【文章來源】：產(chǎn)業(yè)與科技論壇. 2020,19(16)

【文章頁數(shù)】：3 頁

【部分圖文】：

鈉中雜質的飽和度曲線和極限過飽和度曲線

通常，阻塞溫度定義為阻塞孔流量開始下降時阻塞孔處的溫度，對于一次典型的阻塞計測量過程，當以恒定的冷卻速率冷卻阻塞孔時，阻塞孔溫度和鈉流量隨時間的變化如圖2所示，當阻塞孔處溫度達到鈉中雜質的飽和溫度時，鈉中雜質開始結晶析出，沉積在阻塞孔的內(nèi)表面，造成阻塞孔流量的下降。阻塞溫度可以用來表征鈉中雜質的濃度水平，但由于雜質沉積需要一定的時間，在可觀測到的鈉流量下降出現(xiàn)之前，阻塞孔溫度會降低到比飽和溫度更低的值，因此阻塞溫度與鈉中雜質的飽和溫度之間存在一定的誤差，需要建立合適的數(shù)學模型去構建兩者之間的關系，并分析誤差。


本文編號：3288383