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基于探測效率刻度提高分段伽馬掃描探測精度的研究

發(fā)布時間:2020-08-17 12:46
【摘要】:核動力廠日常運行中產(chǎn)生的低、中水平放射性廢物中含有未知量的各種放射性核素,桶內(nèi)介質和放射性物質組成復雜多變,平均密度變化范圍非常大,空間分布極其不均勻,物理和化學形態(tài)十分復雜,如果采用傳統(tǒng)的抽樣化學分析方法進行檢測,其結果很難具有代表性,必然帶來極大的人為不可控誤差。目前,對于放射性廢物桶的測量比較理想的測量方法為無損分析方法(Non-Destructive Assay),簡稱NDA。而分段γ掃描技術是目前常用的無損分析方法。對于分段γ掃描技術,探測器的探測效率刻度是測量的核心。在分段γ掃描技術中,由于廢物桶勻速旋轉,點源可被視為環(huán)源,不同半徑的環(huán)源對探測器有不同的探測效率,這是造成分段γ掃描技術對非均勻樣品探測誤差的主要原因。對此,有學者提出改進型分段γ掃描技術,將核素等效為一個線性環(huán)源,采用兩個探測器對環(huán)源進行定位,獲得等效半徑,從而能準確計算環(huán)源的探測效率,并重建出核素的活度。該方法在有限個數(shù)的點源情況下探測精度較分段γ掃描技術有很大提高,但是針對點源數(shù)量較多的情況沒有深入研究。本研究將對環(huán)源探測效率隨環(huán)半徑的分布規(guī)律進行研究,分析不同填充物質密度、核素能量下探測效率與探測器偏心距以及提出了一種不受準直器影響的探測效率的數(shù)值計算方法,從而在分段γ掃描技術測量中設置探測器的偏心位置以獲得最佳的探測精度。該研究既具備科學意義,同時又具有一定的實際工程價值。主要的研究內(nèi)容和成果包括:(1)研究傳統(tǒng)的SGS測量系統(tǒng)在進行探測效率刻度時,放射源在廢物桶內(nèi)不同位置對探測效率精度的影響規(guī)律;(2)研究探測器和廢物桶相對位置的偏移程度對不同工況下SGS系統(tǒng)探測效率刻度精度影響的規(guī)律;(3)推導出不受到準直器形狀影響的探測效率數(shù)值計算公式,通過計算結果與蒙特卡羅計算結果和實驗結果對比,證實了公式的可靠性,在不影響探測效率刻度精度的前提下,提高了探測效率刻度的效率;(4)給出SGS系統(tǒng)對核動力廠日常中低放射性廢物桶測量中,不同情況下令探測效率刻度精度最高的探測器偏心距。
【學位授予單位】:上海交通大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2017
【分類號】:TL816
【圖文】:

示意圖,光電效應,示意圖,能量子


圖 2-1. 光電效應示意圖Fig. 2-1 Schematic diagram of photoelectric effect釋這一種現(xiàn)象,愛因斯坦提出了光量子理論。假設光的能量在空間續(xù)的,呈能量子的狀態(tài),這些能量子只能被整個的產(chǎn)生和吸收,稱光子)。光子的能量為 = 。之后,愛因斯坦進一步提出光子的動

示意圖,康普頓散射,示意圖,光子


圖 2-2. 康普頓散射示意圖Fig. 2-2 Schematic diagram of compton scattering中,hν及h 分別為入射的光子和散射的光子的能量,θ為散射的光子方向的角度,這個角度被稱為散射角,φ為反沖的電子與入射的光間的角度,這個角度被稱為反沖角。與光電效應區(qū)別的是,康普頓

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圖 2-3. 電子對效應示意圖Fig. 2-3 Schematic diagram of electron pair effect對效應過程中的動量守恒和能量守恒方程為: = (2-11)hν = 2 2(2-12)

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本文編號:2795341

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