內嵌自動穩(wěn)譜的PMT-BASE數(shù)字化能譜儀研制
【學位授予單位】:成都理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2019
【分類號】:TL817
【圖文】:
(c) CAEN Gamma stream (d) XIAPixie-Net圖 1-1 國外 PMT-BASE 一體化能譜儀產(chǎn)品國內在能譜儀方面的研究長期處于定制開發(fā)模式,一機一用途。雖然在能譜儀的組件方面有很多相關研究和成果,但通用的 PMT-BASE 一體化多道能譜儀一直處于空白狀態(tài)。正如前文所述,國內在這種內部集成高壓、PMT 偏置電路、前置放大器的PMT-BASE 一體化能譜儀方面的空缺使得國外在這方面的產(chǎn)品長期處于壟斷地位,價格一直居高不下。因此,本文擬自主研發(fā)一款 PMT-BASE 一體化能譜儀。1.3 研究內容本文的研究課題來源于高分辨率航空伽瑪能譜測量及機載成像光譜測量技術(2017YFC0602100)。目前國外的一體化能譜儀主要是使用 FPGA(Field-Programmable Gate Array,簡稱 FPGA)加 ARM(Advanced RISC Machine,稱ARM)的雙處理器構架實現(xiàn),F(xiàn)PGA加ARM的構架能充分發(fā)揮各自器件的特長,
漂是指能譜儀在某條件下的儀器譜和既定條件下的“標準譜”(對同,其峰位或譜形發(fā)生了變化(楊渙章,2009)。引起譜漂的原因有獻最大的為溫度變化。溫度對閃爍體的影響已經(jīng)有很多研究,對于言,它的最大光輸出溫度在 20℃~30℃范圍內,在溫度為-40℃時,下降為最大光輸出的 70%左右,在 60℃高溫時下降為最大光輸出M. Moszyński,et al,2006)。同時溫度還會影響到 NaI(TL)晶體的,當溫度下降到-40℃時,其發(fā)光衰減時間將長達 700ns。R.Casan文章《Temperature peak-shift correction methods for NaI(Tl) and Laa-ray spectrum stabilisation》中詳細闡述了 NaI(Tl)和 LaBr3(Ce)晶體如圖 2-1 為 NaI(Tl)晶體在不同溫度下的相對峰位和溫度的關系。從,溫度從-5℃~45℃的區(qū)間,隨著溫度的升高全能段的峰位明顯發(fā),從-5℃~15℃的溫度范圍內,能譜漂移速度相對較慢。從 15℃往溫度漂移的速度變快。
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本文編號:2731030
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