【摘要】：核電站、乏燃料處理廠等在運(yùn)行過程中會(huì)產(chǎn)生放射性惰性氣體,這些放射性惰性氣體通常被廢氣處理系統(tǒng)收集處理后排入大氣。對(duì)該系統(tǒng)進(jìn)行在線輻射監(jiān)測(cè),及時(shí)了解排氣放射性總活度或瞬時(shí)活度濃度,以實(shí)現(xiàn)對(duì)排氣的有效控制,是避免核電站周圍環(huán)境受到污染、保障周邊居民安全的必要手段。但是,目前多數(shù)壓水堆核電站并未對(duì)該系統(tǒng)采取單獨(dú)監(jiān)測(cè),而AP1000等三代核電站技術(shù)雖然提出了監(jiān)測(cè)要求,但市場(chǎng)上并未有相關(guān)成熟的監(jiān)測(cè)設(shè)備。本文針對(duì)核電站廢氣處理系統(tǒng)對(duì)所排含氫廢氣的放射性監(jiān)測(cè)要求,提出了一種在線監(jiān)測(cè)方案,有效的解決了廢氣處理系統(tǒng)含氫廢氣中85Kr、133Xe核素放射性監(jiān)測(cè)的問題。并利用Geant4蒙卡模擬工具包對(duì)監(jiān)測(cè)儀的探測(cè)效率、環(huán)境γ本底影響等方面問題進(jìn)行了模擬計(jì)算,為設(shè)備的研制生產(chǎn)提供重要的理論參考和依據(jù)。計(jì)算結(jié)果表明:采用尺寸為φ20mm×0.5mm的圓形薄片高β/γ比率塑料閃爍體基于在線監(jiān)測(cè)方案在理論設(shè)計(jì)上可滿足AP1000核電站廢氣處理系統(tǒng)對(duì)所排含氫廢氣的放射性監(jiān)測(cè)要求,在γ環(huán)境本底小于10μGy/h條件下無需增加鉛屏蔽體。監(jiān)測(cè)儀前置放大電路采用THS4631高速運(yùn)放,兩級(jí)放大,噪聲水平及脈沖幅度能滿足50keV～3MeV能量測(cè)量范圍需要,且探頭部分配有LED自檢裝置。最后經(jīng)標(biāo)定試驗(yàn)得到了監(jiān)測(cè)儀校準(zhǔn)系數(shù),并與模擬計(jì)算結(jié)果比較,二者相對(duì)偏差小于5%。
【圖文】：

在排出流達(dá)到電廠通風(fēng)口前或任何其它流量稀釋排放物前，進(jìn)行測(cè)量。其主要逡逑特點(diǎn)為：要求實(shí)現(xiàn)在線管內(nèi)放射性連續(xù)測(cè)量，測(cè)量范圍３．７0ｘｌ0６Ｂｑ／ｍ３？３．７0ｘｌ0１２Ｂｑ／ｍ３，逡逑監(jiān)測(cè)對(duì)象為惰性氣體Ｐ放射性［５］，如圖１．２所示。逡逑Ｕ邐供電逡逑就地輻射處理逡逑；邋卜邐＋信號(hào)逡逑邐邐逡逑＾邐排氣管線邐ｇ逡逑圖１．２邋ＡＰ１０００廢氣處理系統(tǒng)監(jiān)測(cè)方案示意圖逡逑由于廢氣處理系統(tǒng)所排廢氣直接來源于一回路冷卻劑，，其氫氣含量明顯高于其它區(qū)逡逑２逡逑

哈爾濱工程大學(xué)碩士學(xué)位論文逡逑２．邋１．１加壓貯存廢氣處理方式逡逑加壓貯存技術(shù)處理的基本流程如圖２．１所示，將氫氧復(fù)合后的廢氣經(jīng)壓縮機(jī)加壓至逡逑０．６Ｍｐａ？０．７Ｍｐａ后送入衰變箱中貯存，經(jīng)過４５？６０天的貯存，待放射性廢氣充分衰變逡逑后，取樣分析其中的放射性核素活度濃度，確認(rèn)滿足國(guó)家相關(guān)排放標(biāo)準(zhǔn)后，經(jīng)輔助廠房逡逑通風(fēng)系統(tǒng)排入煙囪，為了防止因空氣滲入產(chǎn)生爆炸的危險(xiǎn)，系統(tǒng)運(yùn)行前需經(jīng)氦氣檢漏，逡逑整個(gè)系統(tǒng)在正壓下運(yùn)行。逡逑考慮到廢氣為含氫放射性氣體，在ＧＢ９１３６－１９８８中對(duì)加壓貯存處理工藝過程有如下逡逑要求［３］：逡逑１）
【學(xué)位授予單位】：哈爾濱工程大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2014
【分類號(hào)】：TL81

【參考文獻(xiàn)】

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1 李奇;王世聯(lián);樊元慶;賈懷茂;陳占營(yíng);張新軍;趙允剛;王軍;;~(133)Xe活度濃度的絕對(duì)測(cè)量[J];原子能科學(xué)技術(shù);2011年04期

2 賈懷茂;王世聯(lián);李奇;王軍;趙允剛;張新軍;樊元慶;;惰性氣體β-γ符合測(cè)量系統(tǒng)探測(cè)器能量及分辨率刻度[J];原子能科學(xué)技術(shù);2010年10期

3 夏文明;賈銘椿;龔軍軍;付海龍;;用于放射性惰性氣體總β測(cè)量的組合探測(cè)器的厚度的確定[J];核電子學(xué)與探測(cè)技術(shù);2010年07期

4 許滸;陳祥磊;朱國(guó)華;程

本文編號(hào)：2689961