基于表面解吸常壓化學(xué)電離源的離子遷移譜儀研究
發(fā)布時(shí)間:2020-04-15 18:45
【摘要】:近年來(lái),恐怖襲擊行徑頻頻發(fā)生,販毒和走私活動(dòng)日益猖獗,環(huán)境惡化越來(lái)越嚴(yán)重,為了切實(shí)加強(qiáng)對(duì)這些過(guò)程進(jìn)行控制,迫切需要開(kāi)發(fā)一種快速、靈敏、便攜的檢測(cè)儀器。離子遷移譜技術(shù)(Ion Mobility Spectrometry,IMS)以其檢測(cè)速度快、靈敏度高、體積小、功耗低等眾多優(yōu)點(diǎn),被普遍應(yīng)用于爆炸物、毒品、化學(xué)戰(zhàn)劑和環(huán)境污染物的分析檢測(cè)中,F(xiàn)有的商業(yè)化離子遷移譜儀器上廣泛使用的離子源為放射性元素的電離源,具有穩(wěn)定性好、功耗低、信噪比高、使用方便等優(yōu)點(diǎn)。然而這類電離源電離效率低、線性范圍窄,尤其是具有放射性污染,從而制約了IMS技術(shù)的發(fā)展,新型離子源的研制與開(kāi)發(fā)對(duì)于推動(dòng)離子遷移譜技術(shù)的發(fā)展具有特別重要的意義,現(xiàn)在關(guān)于離子遷移譜的研究主要包括基于各種新型離子源的理論、裝置、技術(shù)與方法的研究。針對(duì)此問(wèn)題,本文嘗試選用表面解吸常壓化學(xué)電離源(Desorption Atomspheric Pressure Chemical Ionization,DAPCI)作為離子遷移譜儀電離源。表面解吸常壓化學(xué)電離技術(shù)是一種用于直接分析樣品表面的電離技術(shù),該電離技術(shù)除了具有無(wú)放射性污染的優(yōu)點(diǎn)外,還具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作便攜、無(wú)化學(xué)污染、便于與小型分析儀器聯(lián)用等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用在食品安全、國(guó)防安全、刑事偵查等諸多領(lǐng)域。這些優(yōu)點(diǎn)都進(jìn)一步加深人們對(duì)DAPCI和IMS的認(rèn)識(shí),繼續(xù)加強(qiáng)DAPCI和IMS的相關(guān)研究,以后發(fā)展新型的離子遷移譜儀以及拓展相關(guān)應(yīng)用奠定了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。本文將表面解吸常壓化學(xué)電離技術(shù)(DAPCI)與離子遷移譜(IMS)技術(shù)聯(lián)用,在離子遷移譜儀研究背景和現(xiàn)狀進(jìn)行簡(jiǎn)要分析的基礎(chǔ)上,詳細(xì)闡述了表面解吸常壓化學(xué)電離離子遷移譜儀的原理和結(jié)構(gòu)。在前期大量實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)分析的基礎(chǔ)上,自主研制、開(kāi)發(fā)IMS專用DAPCI源,構(gòu)建DAPCI-IMS研究平臺(tái),選取爆炸物標(biāo)準(zhǔn)樣品,考察實(shí)驗(yàn)條件對(duì)DAPCI-IMS工作性能的相互作用,比較引入DAPCI電離源前后對(duì)離子遷移譜系統(tǒng)靈敏度與分析性能的影響;研究DAPCI-IMS的工作機(jī)理,掌握其工作規(guī)律。在此基礎(chǔ)上,系統(tǒng)考察及研究DAPCI-IMS對(duì)樣品表面進(jìn)行實(shí)時(shí)、在線、無(wú)損、無(wú)污染快速檢測(cè)的可行性,為探索DAPCI-IMS在食品安全與品質(zhì)等領(lǐng)域新分析方法奠定基礎(chǔ)。
【學(xué)位授予單位】:東華理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類號(hào)】:TL817
本文編號(hào):2628862
【學(xué)位授予單位】:東華理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
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,本文編號(hào):2628862
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