采用二維積分方程和體積分方程分別模擬軸對(duì)稱(chēng)二維井間地層和三維井間地層模型中異常體的響應(yīng),并分析三維異常體沿垂直于發(fā)射—接收剖面方向的厚度和偏心程度以及在發(fā)射—接收剖面的橫向位置對(duì)其響應(yīng)的影響。采用Born迭代方法,通過(guò)反演不同模型的模擬數(shù)據(jù)獲得發(fā)射—接收剖面的二維電導(dǎo)率成像。結(jié)果表明,在將三維地層中得到的井間測(cè)量數(shù)據(jù)在發(fā)射—接收剖面采用軸對(duì)稱(chēng)二維模型進(jìn)行成像時(shí),其成像質(zhì)量與異常體沿垂直于發(fā)射—接收剖面方向的厚度和偏心程度直接相關(guān)。只要異常體沿垂直于發(fā)射—接收剖面方向的厚度足夠大且其中心點(diǎn)距離發(fā)射—接收剖面較近,就可以采用軸對(duì)稱(chēng)二維井間地層模型實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量成像。異常體厚度越小、偏心程度越高,成像效果越差。

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【部分圖文】：

圖1井間地層模型簡(jiǎn)圖

式中,rT=(ρT,zT)、rR=(ρR,zR)分別為發(fā)射線(xiàn)圈和接收線(xiàn)圈的位置坐標(biāo);D為發(fā)射—接收剖面包含電導(dǎo)率異常體的積分區(qū)域;Γ?(rR,r′)為層狀背景地層中r′處的單位圓電流元在接收點(diǎn)rR處的Green函數(shù);Δσ(r′)=σ(r′)-σb(r′)為異常體與背景地層電....

圖2地層模型1

圖2為井間地層模型1,所采用的發(fā)射頻率為1kHz,在井間區(qū)域有兩個(gè)相對(duì)低電導(dǎo)率異常體,其電導(dǎo)率自上而下分別為0.05和0.01S·m-1。對(duì)軸對(duì)稱(chēng)二維模型,異常體相對(duì)于發(fā)射井呈圓周對(duì)稱(chēng);對(duì)三維模型,異常體沿垂直于紙面方向(y向)居中放置,即相對(duì)于y=0平面保持對(duì)稱(chēng),但沿y方向....

圖3地層模型1數(shù)值模擬結(jié)果

由圖3(a)和圖3(e)可以看出,當(dāng)三維異常體沿y方向的厚度較小時(shí),其產(chǎn)生的散射場(chǎng)的幅度與二維異常體產(chǎn)生的場(chǎng)相比要小得多,平均誤差也較大,這主要是三維異常體體積太小導(dǎo)致的。隨著Δy的增加,三維異常體產(chǎn)生的散射場(chǎng)的幅度逐漸增加,越來(lái)越接近軸對(duì)稱(chēng)二維異常體產(chǎn)生的散射場(chǎng),平均誤差亦逐漸....

圖4地層模型2數(shù)值模擬結(jié)果

綜合上述兩種模型的計(jì)算結(jié)果可以看出,在將三維地層環(huán)境中得到的井間測(cè)量數(shù)據(jù)在發(fā)射—接收剖面采用軸對(duì)稱(chēng)二維模型進(jìn)行成像時(shí)其成像結(jié)果的質(zhì)量與異常體沿y方向的厚度Δy有關(guān)。若異常體沿y方向厚度較小,其產(chǎn)生的散射場(chǎng)與二維異常體產(chǎn)生的散射場(chǎng)相比要小,平均誤差較大,成像效果與實(shí)際模型相比差別較....

本文編號(hào)：3920278