在建設(shè)垃圾填埋場的過程中填埋場的選址是最為關(guān)鍵的步驟。在選址前的勘查工作中,由于綜合物探方法具有多物性基礎(chǔ),多參數(shù)成果,勘探分辨率高等特點(diǎn),成為了勘查工作中的利器。首先簡要介紹了利用高密度電阻率法、瞬變電磁及微動(dòng)技術(shù)在某垃圾填埋場選址勘查中的應(yīng)用效果。然后將綜合物探成果與鉆探驗(yàn)證結(jié)果進(jìn)行分析對(duì)比,兩者結(jié)果吻合度較高,取得了較好的效果。結(jié)果表明,綜合物探方法的應(yīng)用可有效彌補(bǔ)單一方法的不足,進(jìn)一步提高勘查成果的可靠性和準(zhǔn)確性,為后續(xù)填埋場選址工作提供有效的指導(dǎo)。 

【文章來源】：工程地球物理學(xué)報(bào). 2020,17(05)

【文章頁數(shù)】：8 頁

【部分圖文】：

區(qū)域地質(zhì)及物探工作布置示意圖

在測區(qū)內(nèi)布置3條高密度電阻率剖面,目的是了解測區(qū)內(nèi)的電性分布特征及有無斷裂構(gòu)造分布。根據(jù)高密度X-Z方向立體成果圖(圖2),測區(qū)內(nèi)電性特征整體表現(xiàn)為縱向由淺到深視電阻率值呈低-高的趨勢,第四系覆蓋層與灰?guī)r的層位反映很清晰;在高程27～12 m深度范圍內(nèi),電阻率值為20～80 Ω·m,呈低阻反映,解釋為第四系覆蓋層(Q)的反映;在高程15～-64 m范圍內(nèi),電阻率值為80～500 Ω·m,呈高阻反映,解釋推測為奧陶系下統(tǒng)侖山組(O1l)灰?guī)r的反映;根據(jù)高密度電法成果,測區(qū)內(nèi)未發(fā)現(xiàn)明顯的斷裂構(gòu)造分布。可以看出,高密度電法對(duì)本區(qū)地層層位反映很清晰,因自身體積勘探效應(yīng)的影響,對(duì)本次規(guī)模較小的巖溶分辨率不夠,反映較差。4.2 微動(dòng)異常特征及解釋

4.2 微動(dòng)異常特征及解釋測區(qū)內(nèi)又投入微動(dòng)工作,目的是以波速差異為基礎(chǔ)圈定溶洞的分布范圍,配合高密度電阻率法、瞬變電磁等工作,進(jìn)行多方法查證,減少單一物探方法的多解性。根據(jù)4條微動(dòng)剖面的X-Z方向立體成果圖(圖3),淺部VS呈低值反映,深部VS呈高值反映,整個(gè)斷面的層位清晰,反映出了測區(qū)內(nèi)地層的整體變化特點(diǎn)。在高程32～8 m范圍內(nèi),VS=200～500 m/s呈低速反映,解釋為第四系(Q)覆蓋層的反映;在高程10～-80 m范圍內(nèi),VS大于500 m/s呈高速反映,解釋為奧陶系下統(tǒng)侖山組(O1l)灰?guī)r的反映。在第四系覆蓋層與灰?guī)r接觸面附近,出現(xiàn)多個(gè)低速閉合圈狀異常反映,與瞬變電磁剖面的低阻異常區(qū)相吻合,解釋推測為溶洞的反映。相對(duì)于高密度電阻率法,微動(dòng)在地層分層方面兩者成果相吻合,但在溶洞反映的效果上要明顯優(yōu)于前者。

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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