以母本中國南瓜（Cucurbita moschata Duch.）MO和父本印度南瓜（Cucurbita maxima Duch.）MA為對照,通過測定熱脅迫前后植株葉片的相對電導(dǎo)率（E）、計算傷害率（RI）以及正向超親優(yōu)勢PHA值和負向超親優(yōu)勢NHA值,對36個中（MO）×�。∕A）南瓜遠緣雜交新種質(zhì)的F₅和F₆自交系進行耐熱性評價。結(jié)果顯示,RI對材料耐熱性差異區(qū)分度高,與植株耐熱表型結(jié)果吻合,與植物耐熱性負相關(guān),可直觀評價中印南瓜遠緣雜種后代耐熱性。供試南瓜材料在熱處理之后,相對電導(dǎo)率（E）均升高,表明熱處理破壞了葉片細胞膜;不同材料之間相對電導(dǎo)率增加幅度不同,表明材料間細胞膜熱穩(wěn)定性存在差異。中國南瓜MO比印度南瓜MA耐熱性強,其RI值分別為0.24±0.10和0.65±0.29。以MO和MA的RI值為閾值,共篩選到16個耐熱株系（PHA值為-8.3%～-87.5%,平均值為-54.1%,PHA絕對值越大,正向超親優(yōu)勢越明顯）,14個不耐熱株系（NHA值為3%～40%,平均值為24.3%）,及6個耐熱性介于親本之間的株系。供試材料整體... 

【文章來源】：植物遺傳資源學(xué)報. 2020,21(06)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】：9 頁

【部分圖文】：

36個株系（1～36）及親本MO(37）和MA(38）的E值和RI值垂線圖

降低RI閾值為0.15，可以篩選到13個表現(xiàn)出超親優(yōu)勢的耐熱株系（圖1),PHA值為-41.7%～-87.5%，包括源于18SH的10個F5株系，2個源于18SE的F5株系和1個源于18FB的F6株系。在表1中這13個株系的S-N-K多重比較結(jié)果標注字母a。由圖2可見，葉片傷害率最小的5號和9號（RI值分別為0.03±0.14和0.03±0.04），熱處理后，植株葉片輕微萎蔫和倒伏，生長基本正常，表現(xiàn)極為耐熱，熱害指數(shù)分別為3.0和4.7（表1）。36份材料中葉片傷害率最高的2個株系是源于18SF的26號和27號株系（RI值分別為0.91±0.04和0.91±0.02），圖2中這2個株系經(jīng)過熱處理，植株已經(jīng)完全萎蔫倒伏，表現(xiàn)極不耐熱，熱害指數(shù)均為100.0（表1）。3 討論

【參考文獻】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號：3539036