糧食安全是我國社會和諧、經(jīng)濟穩(wěn)定、經(jīng)濟持續(xù)發(fā)展的一個重要前提。傳統(tǒng)的針對糧粒害蟲的檢測方法有許多不足之處,如主觀性太強、不易發(fā)現(xiàn)隱蔽性害蟲等。近年來,國內(nèi)外學者應用各種新型檢測技術對糧粒害蟲檢測進行了較為深入的研究,但無法實現(xiàn)對糧粒內(nèi)部卵及低齡幼蟲的自動檢測。Micro-CT成像技術通過成像系統(tǒng)掃描可獲取糧粒的高分辨率立體信息,分析糧粒內(nèi)部顯微結構的變化,實現(xiàn)糧粒內(nèi)部害蟲的早期自動檢測。本文重點對麥粒Micro-CT圖像采集、麥粒的Micro-CT圖像重建及麥粒的三維可視化三部分進行研究。本文主要工作內(nèi)容如下:構建麥粒長軸定向的多籽粒固定裝置,使麥粒在掃描時固定在中心位置并保持合適的姿態(tài)。利用Micro-CT圖像采集系統(tǒng),當X射線陽極電壓為55 k Vp、電流為72?A、濾過器為AL、積分時間為200ms時,分別在米象產(chǎn)卵后的第3、9、17、22、28天,采集卵期、低齡幼蟲期、高齡幼蟲期、蛹期和成蟲期侵染麥粒投影圖像。選取麥粒厚度為1-6mm立體圖像數(shù)據(jù)中同一位置的灰度立方體進行分析,結果表明隨著麥粒厚度增加,灰度立方體灰度值逐漸減少,麥粒對比度逐漸降低。采集麥粒長軸與旋轉臺面成0°、... 

【文章來源】：華北水利水電大學河南省

【文章頁數(shù)】：73 頁

【學位級別】：碩士

【部分圖文】：

X射線與物體相互作用Fig.2-1InteractionofX-rayswithobjects

華北水利水電大學碩士學位論文子發(fā)生電子對效應。低能 X 射線穿透物質(zhì)時，散射后的光子與到更高能級的電子層，且散射后光子的物質(zhì)相互作用主要有以上四個。當光子度等因素衰減程度不同，根據(jù) X 射線穿，可以獲得被穿透物體的內(nèi)部信息，并X射線才可以廣泛用于很多領域中物體內(nèi)

圖 2-2 X射線穿透均勻物體等效圖Fig.2-2 Figure of X-ray through uniform object2 所示，X 射線足夠窄且為單能，當被測物體為均勻物質(zhì)時，X 射減的，它的衰減規(guī)律遵循 Lambert-Beer 定律：0I I exp( x)0I 為單能 X 射線的初始強度；I 為單能 X 射線的抵達探測器的強度測物體的部分的長度； 是被測物體的衰減系數(shù)。其中衰減系數(shù)主序數(shù) Z、密度 P、射線的能量 E決定。

【參考文獻】：
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本文編號：3116150