本文關(guān)鍵詞：基于精英策略的遺傳算法在功能驗(yàn)證中的應(yīng)用

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【摘要】：針對(duì)集成電路功能驗(yàn)證中覆蓋率收斂較慢的問(wèn)題,通過(guò)分析簡(jiǎn)單遺傳算法(SGA)中精英個(gè)體的特征,提出了一種應(yīng)用于功能驗(yàn)證的精英策略。將本代優(yōu)秀個(gè)體和本代適應(yīng)度高的歷史優(yōu)秀個(gè)體視為精英個(gè)體,給予額外交叉機(jī)會(huì)�；诒疚牟呗缘木⑦z傳算法(EGA)可得到覆蓋率廣、重復(fù)性低的驗(yàn)證向量,縮短功能驗(yàn)證的時(shí)間。采用互相關(guān)函數(shù)的硬件計(jì)算單元作為驗(yàn)證模型,在Matlab中模擬功能驗(yàn)證的過(guò)程,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:與SGA相比,EGA使驗(yàn)證時(shí)間縮短了14.8%,功能覆蓋率從93%提高到95%,有效地提高了功能驗(yàn)證效率。
【作者單位】： 浙江大學(xué)超大規(guī)模集成電路研究所;
【關(guān)鍵詞】： 集成電路驗(yàn)證 功能覆蓋率 遺傳算法 精英策略
【基金】：浙江省自然科學(xué)基金(LY15F040001)
【分類(lèi)號(hào)】：TN407;TP18
【正文快照】： 隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,設(shè)計(jì)的復(fù)雜度越來(lái)越高,如何驗(yàn)證功能定義與寄存器傳輸級(jí)(RTL)描述的一致性,已成為當(dāng)前設(shè)計(jì)過(guò)程中的關(guān)鍵問(wèn)題[1]。以功能覆蓋率為驅(qū)動(dòng)的驗(yàn)證是當(dāng)前的主流方法[23],這類(lèi)方法首先定義了驗(yàn)證模型(Design Under Verification,DUV)的功能覆蓋點(diǎn)及目標(biāo)覆蓋率,，

本文編號(hào)：930746