(Al 0.2 Zr 0.8 ) 20/19 Nb(PO 4 ) 3 基固體電解質(zhì)的性能強(qiáng)化及在傳感器中的應(yīng)用研究
發(fā)布時(shí)間:2023-04-25 19:44
NASICON型固體電解質(zhì)(Al0.2Zr0.8)4/3.8Nb(PO4)3在電化學(xué)傳感器上有著重要的研究。目前,改善固體電解質(zhì)燒結(jié)性能并提高其電導(dǎo)率最常用的方法是添加燒結(jié)助劑或離子摻雜。高溫固相法制備Hf摻雜的固體電解質(zhì)(Al0.2Zr0.8)4+x/3.8Nb1-xHfx(PO4)3(x=0~0.2)。樣品中(Al0.2Zr0.8)4.1/3.8Nb0.9Hf0.1(PO4)3(x=0.1)的電導(dǎo)率最高,在500°C時(shí)的電導(dǎo)率為2.77×10-4 S·cm-1,約為不摻雜的1.26倍。離子遷移數(shù)均在0.99以上,表示電解質(zhì)中是Al3+
【文章頁數(shù)】:70 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
abstract
引言
第1章 文獻(xiàn)綜述
1.1 固體電解質(zhì)
1.2 NASICON型固體電解質(zhì)
1.3 NASICON型 Al3+固體電解質(zhì)的應(yīng)用研究
1.3.1 Al3+固體電解質(zhì)的應(yīng)用研究
1.3.2 Al3+固體電解質(zhì)的鋁傳感器應(yīng)用研究
1.3.3 Al3+固體電解質(zhì)的氣體傳感器應(yīng)用研究
1.4 NASICON型Al3+固體電解質(zhì)的改性研究
第2章 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容與方案
2.1 研究內(nèi)容
2.2 研究目標(biāo)與創(chuàng)新點(diǎn)
2.3 實(shí)驗(yàn)藥品及儀器
2.3.1 實(shí)驗(yàn)藥品
2.3.2 實(shí)驗(yàn)儀器
2.4 材料制備
2.5 性能表征
2.5.1 X射線衍射(XRD)分析
2.5.2 掃描電子顯微鏡(SEM)分析
2.5.3 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
2.5.4 X射線能譜(EDS)分析
2.5.5 X射線光電子能譜(XPS)分析
2.5.6 體密度測試
2.5.7 離子遷移數(shù)測試
2.6 傳感器的制備及測試
2.6.1 NH3氣體傳感器的制備及測試
2.6.2 Al傳感器的制備及測試
第3章 (Al0.2Zr0.8)4+x/3.8Nb1-xHfx(PO4)3的制備及性能研究
3.1 實(shí)驗(yàn)部分
3.2 結(jié)果與討論
3.2.1 X射線衍射(XRD)分析
3.2.2 微觀結(jié)構(gòu)分析
3.2.3 X射線光電子能譜(XPS)分析
3.2.4 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
3.2.5 離子遷移數(shù)分析
3.3 小結(jié)
第4章 (Al0.2Zr0.8)4/3.8Nb1-xSbx(PO4)3的制備及性能研究
4.1 實(shí)驗(yàn)部分
4.2 結(jié)果與討論
4.2.1 X射線衍射(XRD)分析
4.2.2 微觀結(jié)構(gòu)分析
4.2.3 X射線光電子能譜(XPS)分析
4.2.4 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
4.2.5 離子遷移數(shù)分析
4.3 小結(jié)
第5章 LiF對(Al0.2Zr0.8)4/3.8Nb(PO4)3的性能影響研究
5.1 實(shí)驗(yàn)部分
5.1.1 制備添加LiF的固體電解質(zhì)(Al0.2Zr0.8)4/3.8Nb(PO4)3
5.1.2 NH3氣體傳感器的制備
5.1.3 Al傳感器的制備
5.2 結(jié)果與討論
5.2.1 X射線衍射(XRD)分析
5.2.2 微觀結(jié)構(gòu)分析
5.2.3 X射線光電子能譜(XPS)分析
5.2.4 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
5.2.5 離子遷移數(shù)分析
5.2.6 NH3氣體傳感器測試
5.2.7 Al傳感器測試
5.3 小結(jié)
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
致謝
導(dǎo)師簡介
作者簡介
學(xué)位論文數(shù)據(jù)集
本文編號(hào):3800936
【文章頁數(shù)】:70 頁
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【文章目錄】:
摘要
abstract
引言
第1章 文獻(xiàn)綜述
1.1 固體電解質(zhì)
1.2 NASICON型固體電解質(zhì)
1.3 NASICON型 Al3+固體電解質(zhì)的應(yīng)用研究
1.3.1 Al3+固體電解質(zhì)的應(yīng)用研究
1.3.2 Al3+固體電解質(zhì)的鋁傳感器應(yīng)用研究
1.3.3 Al3+固體電解質(zhì)的氣體傳感器應(yīng)用研究
1.4 NASICON型Al3+固體電解質(zhì)的改性研究
第2章 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容與方案
2.1 研究內(nèi)容
2.2 研究目標(biāo)與創(chuàng)新點(diǎn)
2.3 實(shí)驗(yàn)藥品及儀器
2.3.1 實(shí)驗(yàn)藥品
2.3.2 實(shí)驗(yàn)儀器
2.4 材料制備
2.5 性能表征
2.5.1 X射線衍射(XRD)分析
2.5.2 掃描電子顯微鏡(SEM)分析
2.5.3 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
2.5.4 X射線能譜(EDS)分析
2.5.5 X射線光電子能譜(XPS)分析
2.5.6 體密度測試
2.5.7 離子遷移數(shù)測試
2.6 傳感器的制備及測試
2.6.1 NH3氣體傳感器的制備及測試
2.6.2 Al傳感器的制備及測試
第3章 (Al0.2Zr0.8)4+x/3.8Nb1-xHfx(PO4)3的制備及性能研究
3.1 實(shí)驗(yàn)部分
3.2 結(jié)果與討論
3.2.1 X射線衍射(XRD)分析
3.2.2 微觀結(jié)構(gòu)分析
3.2.3 X射線光電子能譜(XPS)分析
3.2.4 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
3.2.5 離子遷移數(shù)分析
3.3 小結(jié)
第4章 (Al0.2Zr0.8)4/3.8Nb1-xSbx(PO4)3的制備及性能研究
4.1 實(shí)驗(yàn)部分
4.2 結(jié)果與討論
4.2.1 X射線衍射(XRD)分析
4.2.2 微觀結(jié)構(gòu)分析
4.2.3 X射線光電子能譜(XPS)分析
4.2.4 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
4.2.5 離子遷移數(shù)分析
4.3 小結(jié)
第5章 LiF對(Al0.2Zr0.8)4/3.8Nb(PO4)3的性能影響研究
5.1 實(shí)驗(yàn)部分
5.1.1 制備添加LiF的固體電解質(zhì)(Al0.2Zr0.8)4/3.8Nb(PO4)3
5.1.3 Al傳感器的制備
5.2 結(jié)果與討論
5.2.1 X射線衍射(XRD)分析
5.2.2 微觀結(jié)構(gòu)分析
5.2.3 X射線光電子能譜(XPS)分析
5.2.4 電化學(xué)交流阻抗(EIS)分析
5.2.5 離子遷移數(shù)分析
5.2.6 NH3氣體傳感器測試
5.2.7 Al傳感器測試
5.3 小結(jié)
結(jié)論
參考文獻(xiàn)
致謝
導(dǎo)師簡介
作者簡介
學(xué)位論文數(shù)據(jù)集
本文編號(hào):3800936
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