非均勻采樣系統(tǒng)的自校正控制
本文關(guān)鍵詞:非均勻采樣系統(tǒng)的自校正控制
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【摘要】:目前對(duì)采樣間隔時(shí)間相等即單率采樣系統(tǒng)的辨識(shí)與控制方面的理論研究已相當(dāng)成熟。但在現(xiàn)代日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中,由于網(wǎng)絡(luò)、信號(hào)通訊等方面的發(fā)展,傳統(tǒng)的單率系統(tǒng)無(wú)法滿足這些多變的需求,故發(fā)展出了多率系統(tǒng)。伴隨著工業(yè)控制過程中對(duì)采樣精度、實(shí)時(shí)性、控制精度等方面的需求,多率系統(tǒng)得到了廣泛運(yùn)用。非均勻采樣系統(tǒng)是一種特殊的多率系統(tǒng),由于其具備單率系統(tǒng)所不具備的多項(xiàng)優(yōu)點(diǎn),如今也得到了國(guó)內(nèi)外學(xué)者越來越多的關(guān)注。本文基于非均勻采樣系統(tǒng)的研究現(xiàn)狀,提出了一種可控制非均勻采樣系統(tǒng)的自校正控制算法。首先分解非均勻采樣系統(tǒng),將其轉(zhuǎn)化為若干個(gè)子系統(tǒng),然后將最小方差控制算法擴(kuò)展運(yùn)用至各個(gè)子系統(tǒng),從而實(shí)現(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)的自校正控制。其基本思想為實(shí)際輸出跟蹤期望輸出,即令目標(biāo)函數(shù)為實(shí)際輸出與期望輸出的方差,控制量即為能使目標(biāo)函數(shù)為最小的輸入。本文首先描述了非均勻系統(tǒng)中常見的三種采樣方案,并對(duì)其中兩種方案建立狀態(tài)空間模型;再對(duì)狀態(tài)空間模型的變量進(jìn)行提升,接著采用遞推最小二乘辨識(shí)算法對(duì)提升變量后的系統(tǒng)進(jìn)行參數(shù)辨識(shí),并對(duì)該辨識(shí)算法的收斂性進(jìn)行證明;之后分析介紹了針對(duì)含白噪聲無(wú)延時(shí)的非均勻采樣最小相位系統(tǒng)的控制算法并對(duì)其有效性進(jìn)行仿真驗(yàn)證;緊接著繼續(xù)分析了針對(duì)含有色噪聲帶延時(shí)的非均勻采樣非最小相位系統(tǒng)的控制算法并對(duì)其有效性進(jìn)行仿真驗(yàn)證;最后基于兩軸磨粉機(jī)這一實(shí)例,為該系統(tǒng)設(shè)計(jì)控制方案,同時(shí)通過取不同的噪聲方差,觀察信噪比對(duì)辨識(shí)效果和控制效果的影響;最終總結(jié)本文,說明本文不足之處并提出將來的研究方向。
【學(xué)位授予單位】:大連理工大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2016
【分類號(hào)】:TP273
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,本文編號(hào):1151553
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