本文關(guān)鍵詞：傅里葉望遠(yuǎn)鏡發(fā)射陣列的冗余度及“冗余度-斯特列爾比-目標(biāo)信息”特性分析

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【摘要】：傅里葉望遠(yuǎn)技術(shù)中不同的基線配置產(chǎn)生不同方向的多組干涉條紋以掃描目標(biāo)表面.能否有效判斷條紋方向與目標(biāo)表面細(xì)節(jié)信息是否匹配決定了目標(biāo)空間的采樣效果.本文首先對(duì)發(fā)射基線的冗余度進(jìn)行了分析,之后提出了一種新的發(fā)射基線分析方法,通過(guò)定義冗余度-斯特列爾比-目標(biāo)信息(RST)的概念,將基線冗余度、目標(biāo)細(xì)節(jié)信息與重構(gòu)圖像質(zhì)量相結(jié)合.分析了目標(biāo)空間細(xì)節(jié)信息與基線配置的匹配關(guān)系.文中采用T形陣列對(duì)目標(biāo)空間頻譜采樣.當(dāng)某一基線配置的RST值滿足文中所設(shè)定的大小關(guān)系時(shí),判斷目標(biāo)的細(xì)節(jié)信息主要分布于陣列的橫軸方向還是豎軸方向.并以此為參考,調(diào)整下一步基線掃描時(shí)橫豎兩軸的擴(kuò)展規(guī)模,實(shí)現(xiàn)了利用目標(biāo)空間的較低頻反饋信息來(lái)指導(dǎo)較高頻信息的采樣基線配置.此分析方法的建立有助于優(yōu)化傅里葉望遠(yuǎn)系統(tǒng)真實(shí)發(fā)射陣列的工作方式,使基線的頻譜與目標(biāo)的空間譜較好地匹配,達(dá)到更好的探測(cè)結(jié)果.
【作者單位】： 中科院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所;
【關(guān)鍵詞】： 傅里葉望遠(yuǎn)術(shù) 空間頻譜 冗余度 成像質(zhì)量
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金(批準(zhǔn)號(hào):61505248)資助的課題~~
【分類號(hào)】：TH743
【正文快照】： 斯特列爾比(Strehl ratio)[2]以及目標(biāo)的紋理分布1引言(target texture distribution),提出了同時(shí)包含冗余度-斯特列爾比-目標(biāo)信息(RST)三種因素的分析目前針對(duì)傅里葉望遠(yuǎn)鏡發(fā)射陣列的研究分為方法,并定義為RST值的計(jì)算方法,使得被測(cè)目標(biāo)陣列規(guī)模與成像質(zhì)量關(guān)系[1-4]和光束掃，

本文編號(hào)：980319