本文關(guān)鍵詞：紅外輻射測溫系統(tǒng)設(shè)計及SSE的影響研究

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【摘要】：SSE是影響輻射測溫的一個重要因素,為了研究輻射測溫光學(xué)系統(tǒng)在減小SSE影響上的作用,設(shè)計了工作波段為0.8~1.2μm的近紅外輻射溫度計的實(shí)驗(yàn)光學(xué)系統(tǒng);該系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的組成元件少,主要包括紅外物鏡和分光鏡,因而便于實(shí)驗(yàn)過程變量的控制。同時在滿足通光量的要求下,在光學(xué)系統(tǒng)的特殊位置,設(shè)計了3個不同尺寸的孔徑光闌,以研究不同位置不同孔徑下光學(xué)系統(tǒng)克服SSE影響的效果;通過實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析,得出孔徑光闌的位置和尺寸大小在克服SSE的影響時起著重要作用,在測試1 000℃時,將孔徑光闌設(shè)置在探測器附近,測試溫度的溫度偏差減小了3℃。
【作者單位】： 中國計量學(xué)院;北京南奇星科技發(fā)展有限公司;
【關(guān)鍵詞】： 輻射測溫 光學(xué)系統(tǒng) 孔徑光闌 背景輻射 輻射源尺寸效應(yīng)
【分類號】：TH811
【正文快照】： 0引言在國防、軍事、科學(xué)實(shí)驗(yàn)及工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中,溫度的測量和控制具有十分重要的作用;而在溫度測量領(lǐng)域,主要包括兩大類:接觸測溫與非接觸測溫;根據(jù)兩種測溫法的測溫原理,非接觸測溫在許多方面都要優(yōu)于接觸測溫,例如:測溫范圍廣、不影響溫場、可測量超高溫物體等[1-2],特別是近

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本文編號：934772