本文關(guān)鍵詞：高精度實(shí)時主動軸向防漂移系統(tǒng)研究

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【摘要】：基于單分子定位的熒光納米分辨顯微成像中,系統(tǒng)漂移會使得單分子定位出現(xiàn)額外偏差,從而使重構(gòu)圖像的分辨率降低,造成圖像模糊.因此,對系統(tǒng)漂移量的控制至關(guān)重要.近年來,防漂移的方法層出不窮.本文針對其中一種利用光學(xué)測量原理和引入負(fù)反饋的防漂移方法做了系統(tǒng)的研究,分析了其原理和實(shí)現(xiàn)過程,對整個系統(tǒng)進(jìn)行了誤差分析,通過實(shí)驗(yàn)標(biāo)定了整個防漂移系統(tǒng)的精度.該系統(tǒng)可以主動實(shí)時地校正漂移量,實(shí)現(xiàn)了顯微鏡軸向9.93 nm的防漂移精度.與現(xiàn)有商用的顯微鏡自帶的防漂移裝置相比,防漂移精度提高了一個量級.
【作者單位】： 中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 超快診斷技術(shù)中國科學(xué)院重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;深圳大學(xué)光電工程學(xué)院 光電子器件與系統(tǒng)(教育部廣東省)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;深圳大學(xué)光電工程學(xué)院光電子器件與系統(tǒng)(教育部廣東省)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;清華大學(xué)精密測試技術(shù)及儀器國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【關(guān)鍵詞】： 納米分辨 四象限探測器 軸向防漂移
【正文快照】： 1引言醫(yī)學(xué)和生命科學(xué)的發(fā)展對顯微成像技術(shù)的要求越來越高,要想觀察到細(xì)胞內(nèi)更精細(xì)的結(jié)構(gòu)和細(xì)胞內(nèi)分子的活動,納米量級的空間分辨率是前提條件,其次還要有足夠大的成像深度.因此,出現(xiàn)了很多三維納米分辨顯微成像方法[1-3],其中3D-STORM(three-dimensional stochastic opticalr

【相似文獻(xiàn)】

中國重要會議論文全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 朱才朝;王家序;唐倩;;新型平行動軸少齒差環(huán)式減速機(jī)[A];2005年中國機(jī)械工程學(xué)會年會論文集[C];2005年

2 金有顯;;板料卷曲時受力分析及計(jì)算[A];塑性加工技術(shù)文集[C];1992年

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本文編號：923492