本文關(guān)鍵詞：可用于小口徑光束波前檢測(cè)的橫向剪切干涉儀

  更多相關(guān)文章： 相干光學(xué) 波面檢測(cè) 橫向剪切 干涉儀 等光程差

【摘要】：提出了一種可用于小口徑光束波面檢測(cè)的橫向剪切干涉儀。該干涉儀由偏振分光棱鏡、光軸與其表面平行的晶體平板、1/4波片、反射鏡及CCD構(gòu)成。被測(cè)光束由偏振分光棱鏡進(jìn)行透射起偏和反射檢偏,利用反射鏡的反射兩次經(jīng)過(guò)晶體平板、1/4波片來(lái)實(shí)現(xiàn)剪切光束的等光程干涉。通過(guò)晶體平板剪切復(fù)制波面以獲得小的剪切量,可用于小口徑光束波面的檢測(cè)。晶體平板的旋轉(zhuǎn)可以改變剪切量,實(shí)現(xiàn)了不同口徑不同波前的光束波面檢測(cè)。對(duì)該干涉儀進(jìn)行了仿真分析,得到了不同入射角情況下的剪切干涉圖,仿真結(jié)果與理論分析結(jié)果相一致。實(shí)驗(yàn)中,旋轉(zhuǎn)晶體平板得到的剪切干涉圖與仿真結(jié)果相一致,很好地驗(yàn)證了該剪切干涉儀的有效性。
【作者單位】： 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所;中國(guó)科學(xué)院大學(xué);
【關(guān)鍵詞】： 相干光學(xué) 波面檢測(cè) 橫向剪切 干涉儀 等光程差
【基金】：國(guó)家國(guó)際科技合作項(xiàng)目(2011DFR10010) 國(guó)家科技重大專(zhuān)項(xiàng)(2011ZX02402)
【分類(lèi)號(hào)】：TH744.3
【正文快照】： 1引言波面測(cè)量技術(shù)是光學(xué)測(cè)量技術(shù)的一個(gè)重要分支,它利用波面的變化反映光波經(jīng)過(guò)的媒質(zhì)或系統(tǒng)的相關(guān)特性,進(jìn)而可以獲得媒質(zhì)或系統(tǒng)的多種相關(guān)信息[1-3]。波面測(cè)量技術(shù)被廣泛應(yīng)用于光束質(zhì)量監(jiān)測(cè)[4]、氣體動(dòng)力學(xué)研究[5]等方面。波面測(cè)量通常采用剪切干涉儀[6-8]來(lái)實(shí)現(xiàn),它將被測(cè)波

【參考文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前6條

1 欒竹,劉立人,劉德安,滕樹(shù)云;雙剪切波面干涉測(cè)量法[J];光學(xué)學(xué)報(bào);2004年10期

2 曾新,丁劍平,梁佩瑩,陳志一;二維剪切干涉波前的最小二乘法重建[J];光學(xué)學(xué)報(bào);2005年03期

3 馬春桃;羅紅心;王R，

本文編號(hào)：908046