本文關(guān)鍵詞：二維全譜高分辨中階梯光譜儀光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計

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【摘要】：傳統(tǒng)的羅蘭圓光譜儀和Czerny-Turner型光譜儀常常采用刻線密的光柵和大的成像焦距,來提高其光譜分辨率,其結(jié)果導(dǎo)致成本高和儀器體積龐大。為了克服這一缺點,提出了一種中階梯光柵和低色散棱鏡相結(jié)合的光譜儀光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計方法。具體分析了中階梯光柵的基本原理和使用方法,給出設(shè)計基于中階梯光柵的光譜儀基本步驟,并且實際設(shè)計了基于中階梯光柵的高分辨光譜儀光學(xué)系統(tǒng),焦距為400 mm,可在全譜工作波段180~800 nm成二維光譜。Zemax光學(xué)設(shè)計軟件對光學(xué)系統(tǒng)進行光線追跡結(jié)果表明,該系統(tǒng)環(huán)圍能量在單個CCD像素(24 mm×24 mm)內(nèi)達到50%~70%以上,200 nm處分辨率可達0.00675 nm,完全滿足設(shè)計指標要求。
【作者單位】： 北京電子科技職業(yè)學(xué)院;北京普源精電科技有限公司;中國科學(xué)院電子學(xué)研究所;中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機械與物理研究所;
【關(guān)鍵詞】： 光學(xué)設(shè)計 光譜儀 中階梯光柵 高分辨 二維光譜
【基金】：國家863計劃(2013AA122201) 北京電子科技職業(yè)學(xué)院科研基地建設(shè)-科技創(chuàng)新平臺項目(PXM2013-014306-000035)
【分類號】：TH744.1
【正文快照】： 1引言發(fā)射光譜儀在現(xiàn)代鋼鐵、化工、冶金、材料、生物等領(lǐng)域的元素成分和含量分析測試中起著重要的作用,目前市場上廣泛使用的光譜儀,其光學(xué)系統(tǒng)大部分都是基于羅蘭圓或Czerny-Turner型結(jié)構(gòu)[1-6]。在基于羅蘭圓結(jié)構(gòu)的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計中,為了獲得高的光譜分辨率,常常通過使用焦距

【參考文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前9條

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【共引文獻】

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1 陶s，

本文編號：906890