本文關鍵詞：合成孔徑子鏡測試拼接技術研究

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【摘要】：光學合成口徑成像技術的目的是使用易于制造的小口徑系統(tǒng)通過光學手段合成大孔徑系統(tǒng),從而滿足高分辨率的系統(tǒng)成像要求。為了實現(xiàn)合成口徑非球面系統(tǒng)共相位,總結了近年來國內外地基和天基合成孔徑大型天文望遠鏡的發(fā)展現(xiàn)狀。研究了常用合成孔徑共相位檢測方法,分析了各類方法的特點和適用性。重點研究了光學雙波長干涉技術檢測子孔徑間臺階誤差的方法,雙波長干涉儀測量范圍大,可對各子口徑間臺階誤差進行檢測。提出一套測試拼接方法,采用雙波長相移干涉儀對合成口徑系統(tǒng)進行面形檢測,針對干涉儀檢測得到的合成口徑系統(tǒng)面形數(shù)據(jù)建立一套合成口徑拼接算法。對各子口徑面形進行曲面擬合,建立面形坐標矩陣,采用三維坐標變換矩陣直接計算出各子鏡平移和偏擺誤差調整量,通過微位移校正機構對誤差進行校正從而達到合成口徑共相位。在計算機上使用matlab軟件進行模擬拼接實驗以驗證拼接算法,模擬了-5～5μm隨機平移誤差和-25～25μrad隨機偏擺誤差,得到拼接系統(tǒng)平移誤差小于20nm,偏擺誤差小于0.15μrad,與系統(tǒng)設定精度相當。在實驗室搭建了一套測試拼接系統(tǒng),使用紅外雙波長相移干涉儀檢測Φ600mm拋物面子鏡系統(tǒng)面形,根據(jù)擬合面形數(shù)據(jù)得到子鏡誤差調整量校正子鏡,實驗結果顯示合成口徑系統(tǒng)子鏡失調誤差與單一口徑面形加工精度λ/15相當,達到合成口徑高分辨率成像要求。
【關鍵詞】：合成口徑 共相位 拋物面 曲面擬合
【學位授予單位】：中國工程物理研究院
【學位級別】：碩士
【學位授予年份】：2015
【分類號】：TH74
【目錄】：

• 摘要3-4
• Abstract4-6
• 第一章 引言6-18
• 1.1 研究背景6-7
• 1.2 國內外研究現(xiàn)狀7-12
• 1.2.1 地基合成孔徑成像系統(tǒng)7-10
• 1.2.2 天基合成孔徑成像系統(tǒng)10-12
• 1.3 合成孔徑共相位檢測技術發(fā)展現(xiàn)狀12-16
• 1.3.1 電學檢測裝置12-13
• 1.3.2 光學檢測裝置13
• 1.3.3 合成孔徑共相位檢測技術13-16
• 1.4 研究重點及創(chuàng)新點16-18
• 第二章 雙波長紅外相移干涉儀共相位檢測技術18-32
• 2.1 相移干涉技術18-21
• 2.2 雙波長相移干涉技術21-25
• 2.2.1 雙波長干涉技術算法研究21-24
• 2.2.2 雙波長干涉技術誤差放大效應24-25
• 2.3 干涉儀光源選擇25-26
• 2.4 波長相移干涉技術程序實現(xiàn)26-32
• 第三章 合成口徑共相位算法研究32-42
• 3.1 合成口徑面形共相位誤差計算理論32-34
• 3.2 合成孔徑共相位算法計算機模擬34-37
• 3.3 合成孔徑共相位算法程序驗證37-42
• 第四章 實驗裝置及實驗結果42-50
• 4.1 實驗裝置42-45
• 4.2 實驗結果45-50
• 第五章 結論50-52
• 致謝52-54
• 參考文獻54-58
• 作者簡介及在學期間發(fā)表的學術論文與研究成果58

【參考文獻】

中國期刊全文數(shù)據(jù)庫 前2條

1 何勇,陳磊,王青,朱日宏;移相式泰曼-格林紅外干涉儀及應用[J];紅外與激光工程;2003年04期

2 宋賀倫;鮮浩;姜文漢;王勝千;;干涉系統(tǒng)在拼接主鏡共相位檢測上的應用[J];紅外與激光工程;2007年S1期

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本文編號：838421