針對星載紅外傅里葉光譜儀中存在的干涉圖條紋計(jì)數(shù)錯(cuò)誤,系統(tǒng)地介紹了其形成原因及對復(fù)原光譜的影響,并提出了檢測和校正方法。通過對干涉圖的偏移相位進(jìn)行線性擬合,能夠精確獲得條紋計(jì)數(shù)誤差個(gè)數(shù);采用理論仿真驗(yàn)證了所提方法的準(zhǔn)確性,誤差最低可至1.25%;最后采用實(shí)際數(shù)據(jù)進(jìn)行驗(yàn)證,驗(yàn)證結(jié)果表明所提方法能夠達(dá)到較好的檢測及校正效果。

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【部分圖文】：

圖1發(fā)生FCE時(shí)的干涉圖示意圖

產(chǎn)生FCE的原因有兩個(gè):一,在動(dòng)鏡轉(zhuǎn)向時(shí),平臺(tái)或儀器自身的振動(dòng)導(dǎo)致部分干涉數(shù)據(jù)發(fā)生漏采樣;二,宇宙高能射線引發(fā)了計(jì)數(shù)系統(tǒng)的異常尖峰,導(dǎo)致計(jì)量系統(tǒng)錯(cuò)誤計(jì)數(shù)。無論是哪一種原因,產(chǎn)生的FCE現(xiàn)象都會(huì)使當(dāng)前的干涉圖采樣發(fā)生偏移,導(dǎo)致后續(xù)采集的干涉圖與之前采集的干涉圖的同一光程差會(huì)有不同的....

圖2不同位置發(fā)生FCE對相位的影響

采樣點(diǎn)丟失可以分為三種情況:FCE發(fā)生在干涉圖左側(cè)邊緣、中部、右側(cè)邊緣。從上面的公式可知:當(dāng)FCE發(fā)生在左側(cè)邊緣及中部時(shí),相當(dāng)于干涉圖大部分向左偏移,干涉圖整體變化較大,所以對光譜及其相位有較大影響;當(dāng)FCE發(fā)生在干涉圖右側(cè)邊緣位置時(shí),相當(dāng)于干涉圖右側(cè)邊緣部分向左偏移,對光譜和相....

圖3不同位置發(fā)生FCE對光譜的影響。

圖2不同位置發(fā)生FCE對相位的影響圖4不同位置發(fā)生FCE對相位差和光譜偏差的影響。

圖4不同位置發(fā)生FCE對相位差和光譜偏差的影響。

圖3不同位置發(fā)生FCE對光譜的影響。圖4所示的仿真結(jié)果也表明了實(shí)際與理論推導(dǎo)一致:當(dāng)FCE發(fā)生在干涉圖的非右側(cè)邊緣位置時(shí),光譜嚴(yán)重失真,相位差以及光譜偏差較大,需要對干涉圖進(jìn)行FCE校正,從而獲得準(zhǔn)確的測量光譜。

本文編號：3922335