基于點(diǎn)衍射干涉的波前動態(tài)測試技術(shù)研究
發(fā)布時間:2024-01-27 03:45
點(diǎn)衍射干涉儀利用針孔衍射出理想的球面波作為干涉儀中的參考波面,不僅可以達(dá)到很高的測試精度,而且減少了測試成本,與傳統(tǒng)的干涉儀相比具有一定的優(yōu)勢。然而點(diǎn)衍射干涉儀中很難實(shí)現(xiàn)移相,特別是同步移相,因此點(diǎn)衍射干涉儀難以運(yùn)用到動態(tài)測試中。本文提出了一種利用針孔線偏振器(Pinhole Linear Polarizer,PLP)實(shí)現(xiàn)點(diǎn)衍射的準(zhǔn)共光路同步移相干涉方案并搭建了相關(guān)實(shí)驗(yàn)裝置,即針孔線偏振器點(diǎn)衍射干涉儀(Pinhole Linear Polarizer Point-diffraction Interferometer,PLP-PDI)。在 PLP-PDI 中使用了 PLP作為點(diǎn)衍射干涉儀中的點(diǎn)衍射板,衍射產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)的球面波。PLP-PDI的干涉系統(tǒng)采用了環(huán)形光路,可以同時獲得偏振方向正交的參考光和測試光,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)共光路的點(diǎn)衍射干涉儀設(shè)計。通過相位光柵和相位延遲陣列實(shí)現(xiàn)了偏振同步移相,減小了環(huán)境振動等因素對干涉測試的影響。本文介紹了 PLP的設(shè)計思路和加工方法,以及PLP-PDI中使用到的光學(xué)元件的參數(shù)和選取原則,計算了實(shí)驗(yàn)裝置中光學(xué)元件的位置和角度關(guān)系,并闡述了實(shí)驗(yàn)裝置的搭建過程。最后對透鏡...
【文章頁數(shù)】:82 頁
【學(xué)位級別】:碩士
本文編號:3886243
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圖1.2液晶波片點(diǎn)衍射干涉儀??2015年,Sanbin?Chen等人也報告了一種利用電光晶體作為移相器的點(diǎn)衍射干涉??
圖1.3透射式點(diǎn)衍射干涉儀??鏡形成會聚波前,入射到偏振點(diǎn)衍射分光鏡上
圖1.4反射式點(diǎn)衍射干涉儀??并且提出了像差校準(zhǔn)的方法
圖1.5泰曼型點(diǎn)衍射干涉儀??5)光纖點(diǎn)衍射干涉儀??
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