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GF-5全譜段光譜成像儀星上定標(biāo)組件在軌性能評價

發(fā)布時間:2024-01-05 18:12
  介紹了高分五號全譜段光譜成像儀(VIMI)可見近紅外波段星上定標(biāo)組件的組成和工作方式,分析了VIMI發(fā)射后星上12次太陽漫反射板(SD)雙向反射分布函數(shù)(BRDF)的量值衰減情況。對比SD反射率衰減監(jiān)測儀(SDRDM)長期觀測的太陽數(shù)據(jù)表明,不同監(jiān)測波段探測器的衰減程度不同,其中900 nm監(jiān)測波段的硅探測器衰減最大,約為4.3%。當(dāng)入射角與觀測方位夾角接近時,SD BRDF的衰減因子(H因子)變化很小。根據(jù)H因子的物理模型得到SDRDM實際監(jiān)測的測量不確定度小于0.86%,滿足小于1.5%的指標(biāo)要求,且VIMI星上定標(biāo)組件全壽命期輸出光譜的輻亮度不確定度小于3.4%。

【文章頁數(shù)】:8 頁

【文章目錄】:
1 引 言
2 SD BRDF衰減監(jiān)測原理及測量方程
    2.1 基于SD和SDRDM的星上定標(biāo)測量流程
    2.2 星上SD BRDF的監(jiān)測原理
    2.3 SDRDM監(jiān)測測量的物理模型
3 SDRDM星上測量數(shù)據(jù)的分析
4 SDRDM監(jiān)測測量不確定度分析
5 結(jié) 論



本文編號:3877090

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