光譜儀器作為重要的分析工具,能夠有效的識別物質的特征光譜,通過分析光譜信息實現(xiàn)對物質的檢測與分析,同時,具有快速、簡便、可靠、無污染和無損傷檢測的優(yōu)點,被廣泛應用于各個領域。近年來,光譜儀越來越受到市場歡迎,并呈現(xiàn)出不斷發(fā)展的趨勢,因此,不斷致力于光譜儀的完善與發(fā)展是十分必要的。本課題在介紹相關理論基礎下,針對寬波段Czerny-Turner結構像散校正能力有限的問題,分析了影響像散校正的因素,包括光譜寬度、角度差值(準直鏡離軸角與聚焦鏡離軸角的差值)和柱鏡擺放位置。重點討論了角度差值對像散校正情況的影響,并研究了其變化規(guī)律,通過理論仿真和設計優(yōu)化等方法驗證了其正確性,給出相應合理的結構參數(shù),是設計消像散型Czerny-Turner結構的一種必要分析過程。結合寬波段光譜儀校正像散能力有限的問題,本文提出了一種復合方法校正Czerny-Turner結構像散,即在一階消像散方法校正寬波段像散的能力達到極限時,加入柱鏡,利用柱鏡的相反像散變化趨勢,進一步校正光學系統(tǒng)的剩余像散,并且推導出復合方法的邊緣波段像散補償公式。理論模擬了一階消像散條件下的剩余像散、柱鏡補償像散和復合方法校正像散隨波長...

【文章頁數(shù)】：62 頁

【學位級別】：碩士

【文章目錄】：
摘要
Abstract
第一章 緒論
    1.1 引言
    1.2 國內外研究現(xiàn)狀
    1.3 課題研究內容
第二章 寬波段Czerny-Turner結構光譜儀相關理論
    2.1 光譜儀光學參數(shù)分析
    2.2 像差理論
第三章 寬波段Czerny-Turner結構像散校正研究
    3.1 成像位置公式
    3.2 光柵補償光學系統(tǒng)像散
    3.3 柱鏡補償剩余像散
    3.4 復合方法校正像散
第四章 寬波段Czerny-Turner結構理論分析驗證
    4.1 相關參數(shù)推導
    4.2 一階消像散條件局限性
    4.3 復合方法理論驗證
第五章 寬波段Czerny-Turner結構光學系統(tǒng)設計
    5.1 光學系統(tǒng)設計方案
    5.2 像質分析
第六章 總結
    6.1 總結
    6.2 創(chuàng)新性
    6.3 展望
致謝
學術成果
參考文獻



本文編號：3770103