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X射線頭顱側(cè)位CCD線陣探測器與非晶硒平板探測器的比較

發(fā)布時間:2022-12-06 05:18
  針對頭顱側(cè)位使用的CCD線陣探測器和非晶硒平板探測器,從參數(shù)性能、成像原理、圖像質(zhì)量和使用維護(hù)方面對兩種類型的探測器進(jìn)行了比較分析,結(jié)果顯示CCD線陣探測器分辨率較高,動態(tài)范圍較大,更容易維護(hù),在成像時間和影像噪聲方面的表現(xiàn)較非晶硒探測器遜色。 

【文章頁數(shù)】:3 頁

【文章目錄】:
1. 關(guān)鍵性能參數(shù)對比
2. 成像原理
    2.1 CCD的成像原理
    2.2 非晶硒探測器的成像原理
3. 患者頭顱側(cè)位圖像對比
4. 使用維護(hù)
5.小結(jié)


【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]X射線線陣探測器的研究與應(yīng)用[J]. 李俊霖,徐東風(fēng).  無損探傷. 2013(05)
[2]非晶硒DR平板探測器的結(jié)構(gòu)原理及維護(hù)保養(yǎng)[J]. 薄夫軍,張永壽,劉乃智,宋天一.  中國醫(yī)學(xué)裝備. 2010(02)

博士論文
[1]CCD型X射線探測器性能研究[D]. 楊彥佶.吉林大學(xué) 2014



本文編號:3711138

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