影響線性CCD非接觸測(cè)徑結(jié)果因素的研究
發(fā)布時(shí)間:2022-10-19 08:40
該文研究影響線性CCD非接觸測(cè)量細(xì)絲直徑精度的因素,通過改變光源強(qiáng)度,研究光強(qiáng)對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響;利用直徑不同的標(biāo)準(zhǔn)細(xì)絲定標(biāo),研究被測(cè)細(xì)絲直徑與標(biāo)準(zhǔn)細(xì)絲直徑之間的關(guān)系,為二次定標(biāo)和高次定標(biāo)提供參考。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明光強(qiáng)比例在50%到90%,測(cè)量結(jié)果變化較小,精度較高,且被測(cè)細(xì)絲直徑越接近標(biāo)準(zhǔn)細(xì)絲直徑測(cè)量結(jié)果越準(zhǔn)確。
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【文章目錄】:
1 實(shí)驗(yàn)方法
2 數(shù)據(jù)測(cè)量與分析
2.1 光源強(qiáng)度對(duì)測(cè)量結(jié)果影響
2.2 標(biāo)準(zhǔn)細(xì)絲與被測(cè)細(xì)絲直徑之間的關(guān)系
3 結(jié)語
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于線陣CCD的精密尺寸測(cè)量系統(tǒng)[J]. 盧佳寶,韓學(xué)輝,王彩霞. 光電子·激光. 2019(09)
[2]基于Franklin矩的亞像素級(jí)圖像邊緣檢測(cè)算法[J]. 吳一全,鄒宇,劉忠林. 儀器儀表學(xué)報(bào). 2019(05)
[3]基于數(shù)字圖像的細(xì)絲直徑測(cè)量實(shí)驗(yàn)[J]. 陳青. 數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用. 2018(06)
[4]基于線陣CCD的軸類零件直徑測(cè)量?jī)x設(shè)計(jì)[J]. 徐航,崔江紅,席建普,任東旭,靳繼勇,范續(xù)陽(yáng). 中原工學(xué)院學(xué)報(bào). 2017(06)
[5]線陣CCD精密尺寸測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與研究[J]. 譚海軍,鄧先申,田芃,周峰. 電子技術(shù)與軟件工程. 2015(11)
本文編號(hào):3693051
【文章頁(yè)數(shù)】:5 頁(yè)
【文章目錄】:
1 實(shí)驗(yàn)方法
2 數(shù)據(jù)測(cè)量與分析
2.1 光源強(qiáng)度對(duì)測(cè)量結(jié)果影響
2.2 標(biāo)準(zhǔn)細(xì)絲與被測(cè)細(xì)絲直徑之間的關(guān)系
3 結(jié)語
【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]基于線陣CCD的精密尺寸測(cè)量系統(tǒng)[J]. 盧佳寶,韓學(xué)輝,王彩霞. 光電子·激光. 2019(09)
[2]基于Franklin矩的亞像素級(jí)圖像邊緣檢測(cè)算法[J]. 吳一全,鄒宇,劉忠林. 儀器儀表學(xué)報(bào). 2019(05)
[3]基于數(shù)字圖像的細(xì)絲直徑測(cè)量實(shí)驗(yàn)[J]. 陳青. 數(shù)字技術(shù)與應(yīng)用. 2018(06)
[4]基于線陣CCD的軸類零件直徑測(cè)量?jī)x設(shè)計(jì)[J]. 徐航,崔江紅,席建普,任東旭,靳繼勇,范續(xù)陽(yáng). 中原工學(xué)院學(xué)報(bào). 2017(06)
[5]線陣CCD精密尺寸測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與研究[J]. 譚海軍,鄧先申,田芃,周峰. 電子技術(shù)與軟件工程. 2015(11)
本文編號(hào):3693051
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