鑒于雙光子受激發(fā)射損耗（STED）復(fù)合顯微鏡在神經(jīng)疾病臨床診斷及腦科學(xué)研究中的重要作用,對雙光子STED復(fù)合顯微成像中多波長選通、多光束合束、關(guān)鍵技術(shù)指標等進行了研究,完成了復(fù)合顯微鏡樣機系統(tǒng)集成研制和復(fù)合成像。該復(fù)合顯微鏡可以對熒光標記的樣本進行掃描成像,具備紅綠雙色熒光掃描成像功能、雙光子綠色熒光成像功能和STED超分辨綠色熒光成像功能。測試結(jié)果表明,該復(fù)合顯微鏡成像深度達到700μm,分辨率優(yōu)于60 nm。 

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【文章目錄】：
引言
1 復(fù)合顯微鏡成像系統(tǒng)
2 雙光子STED復(fù)合顯微成像技術(shù)研究
    2.1 多波長選通
    2.2 多光束合束
    2.3 關(guān)鍵性能指標測定
    2.4 系統(tǒng)成像研究
3 結(jié)論


【參考文獻】：
期刊論文
[1]基于非線性光學(xué)的2PE-STED顯微技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用[J]. 李奇峰,沙乾坤,王洋,陳達.  納米技術(shù)與精密工程. 2015(02)



本文編號：3662162