大型先進壓水堆核電站重大專項——核級傳感器用特種功能材料及元件自主化研制,其核級鉑電阻元件研制已通過了分度、60年壽期加速壽命、上限溫度穩(wěn)定性等試驗。但在性能驗證過程中出現(xiàn)R₀值異常下降的故障現(xiàn)象。本文通過按核級鎧裝鉑電阻抽真空和提高真空度抽真空對故障進行了復現(xiàn)和定位,發(fā)現(xiàn)了電阻異常下降的原因為"釉封不嚴"。由于釉封溫度不夠,釉與骨架未良好融合,殘存微小氣路,在真空及充氣等工序過程中,微小氣路作用于填充粉料,導致感溫鉑絲與填充粉料相對位置發(fā)生改變,產(chǎn)生"并絲",造成鉑電阻元件電阻值大幅下降的異�，F(xiàn)象。本文通過采取針對性措施消除了故障,試驗驗證了故障原因。建議通過適當提高釉封溫度以及二次封釉等工藝,解決釉封不嚴的現(xiàn)象,可避免電阻異常下降的故障,提高了鉑電阻元件的可靠性。 

【文章來源】：傳感器世界. 2020,26(07)

【文章頁數(shù)】：5 頁

【文章目錄】：
一、引言
二、故障現(xiàn)象
三、故障定位
    1、故障源排查
    2、故障原因分析
    3、鎧裝工藝對比試驗
四、機理分析
五、故障復現(xiàn)
六、改進措施及驗證
    1、措施
    2、驗證
        (1)提高溫度、真空度驗證
        (2)核級鎧裝工藝驗證1
        (3)核級鎧裝工藝驗證2
七、結(jié)論


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3589494