平板顯示應(yīng)用領(lǐng)域越來(lái)越寬,從電視延伸到廣告、戶外展示、手機(jī)、平板等領(lǐng)域,成為人類獲取信息的重要來(lái)源,極大的改變了人類生活、生產(chǎn)方式和產(chǎn)業(yè)生態(tài)。無(wú)論是TFT-LCD還是OLED,陣列都是其最核心部分,對(duì)檢測(cè)要求最高。為保證產(chǎn)品良率,面板檢測(cè)貫穿于整個(gè)過程之中。陣列每一道工序后都用自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行檢測(cè),及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品不良,做好過程控制。本文介紹一種陣列自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備及基于生產(chǎn)不良改善開發(fā)的新功能。 

【文章來(lái)源】：計(jì)算機(jī)產(chǎn)品與流通. 2020,(05)

【文章頁(yè)數(shù)】：1 頁(yè)

【部分圖文】：

共同缺陷和Mask缺陷


本文編號(hào)：3408731