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摩擦發(fā)光探測(cè)裝置研制

發(fā)布時(shí)間:2021-08-29 03:49
  為進(jìn)一步研究固體材料在機(jī)械壓力作用下產(chǎn)生的發(fā)光現(xiàn)象及機(jī)制,自行研制一套摩擦發(fā)光探測(cè)裝置。該裝置由機(jī)械系統(tǒng)、控制系統(tǒng)和測(cè)量系統(tǒng)三部分組成,可實(shí)現(xiàn)不同轉(zhuǎn)速、不同載荷、不同摩擦副下的摩擦發(fā)光光強(qiáng)和光譜的探測(cè)。通過測(cè)量不同轉(zhuǎn)速、不同載荷以及不同摩擦副下的摩擦發(fā)光實(shí)驗(yàn),發(fā)現(xiàn)重復(fù)多次測(cè)量,實(shí)驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)穩(wěn)定且有一定規(guī)律性,證明了摩擦發(fā)光探測(cè)裝置的可行性。 

【文章來源】:潤(rùn)滑與密封. 2020,45(02)北大核心CSCD

【文章頁數(shù)】:4 頁

【部分圖文】:

摩擦發(fā)光探測(cè)裝置研制


摩擦發(fā)光探測(cè)裝置實(shí)物圖(a)整體結(jié)構(gòu)示意圖(b)

下壓力,傳感器,信號(hào),摩擦發(fā)光


力測(cè)量系統(tǒng)包括三維力傳感器和數(shù)據(jù)采集卡。操作軟件通過和數(shù)據(jù)采集卡通信實(shí)現(xiàn)對(duì)摩擦過程中下壓力、摩擦力等信號(hào)的采集。在實(shí)驗(yàn)前對(duì)力傳感器進(jìn)行了標(biāo)定,真實(shí)壓力與三維力傳感器輸出信號(hào)之間的關(guān)系如圖2所示?梢钥闯,力測(cè)量有很好的線性和穩(wěn)定性。光測(cè)量系統(tǒng)由Andor光譜儀、光電倍增管(PMT)、光子計(jì)數(shù)器、放大器和電子倍增型CCD探測(cè)器(EMCCD)組成。光測(cè)量系統(tǒng)的光路結(jié)構(gòu)圖如圖3所示。摩擦過程發(fā)出的光通過光纖進(jìn)入光譜儀,并首先由光學(xué)準(zhǔn)直鏡匯聚成平行光。若需要測(cè)量摩擦發(fā)光的光強(qiáng),則控制塔輪選擇平面鏡將入射的光直接反射到聚焦鏡上;若需要測(cè)量摩擦發(fā)光的光譜,則需要控制塔輪選擇衍射光柵,將入射的光色散不同波長(zhǎng)的光。最后,由PMT或EMCCD將光信號(hào)采集,生成光強(qiáng)曲線或光譜曲線。

結(jié)構(gòu)圖,結(jié)構(gòu)圖,摩擦發(fā)光,控制塔


光測(cè)量系統(tǒng)由Andor光譜儀、光電倍增管(PMT)、光子計(jì)數(shù)器、放大器和電子倍增型CCD探測(cè)器(EMCCD)組成。光測(cè)量系統(tǒng)的光路結(jié)構(gòu)圖如圖3所示。摩擦過程發(fā)出的光通過光纖進(jìn)入光譜儀,并首先由光學(xué)準(zhǔn)直鏡匯聚成平行光。若需要測(cè)量摩擦發(fā)光的光強(qiáng),則控制塔輪選擇平面鏡將入射的光直接反射到聚焦鏡上;若需要測(cè)量摩擦發(fā)光的光譜,則需要控制塔輪選擇衍射光柵,將入射的光色散不同波長(zhǎng)的光。最后,由PMT或EMCCD將光信號(hào)采集,生成光強(qiáng)曲線或光譜曲線。2 實(shí)驗(yàn)觀測(cè)

【參考文獻(xiàn)】:
期刊論文
[1]Sm(TTA)3phen的摩擦發(fā)光及發(fā)光現(xiàn)象與配體性質(zhì)的關(guān)系研究[J]. 鄧瑞平,于江波,張洪杰,李哲峰,周亮,彭澤平,郭智勇.  高等學(xué);瘜W(xué)學(xué)報(bào). 2007(06)
[2]ZnS:Mn摩擦發(fā)光特性的研究[J]. 梅增霞,張希清,姚志剛,韓建民,李家澤.  光譜學(xué)與光譜分析. 2001(06)



本文編號(hào):3369844

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