針對在高能等離子體X射線診斷中的Kirkpatrick-Baez（KB）高分辨顯微控制較困難的問題,基于Denauit-Hartenbery（DH）原理,率先提出了雙5自由度KB鏡成像結構,分析了雙機械手的各個連桿坐標系和位姿結構的運動學方程,從理論上分析雙5自由度KB鏡的像差.在此基礎上搭建雙5自由度KB鏡光路系統(tǒng),編制了KB鏡控制流程,并獲取了清晰的十字成像.實驗結果表明,該方法設計的雙5自由度機械手控制方法可以實現KB鏡的精確控制,從而得到高精度分辨成像效果. 

【文章來源】：南京信息工程大學學報(自然科學版). 2020,12(03)

【文章頁數】：6 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 KB顯微鏡設計
    1.1 橢圓晶體KB顯微成像系統(tǒng)結構理論
    1.2 KB鏡結構仿真
    1.3 KB鏡光學仿真
2 實驗結果
3 結論


【參考文獻】：
期刊論文
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本文編號：3164762