本文關(guān)鍵詞：激光掃描測(cè)徑儀的試驗(yàn)探索，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

【摘要】： 激光掃描測(cè)徑技術(shù)在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)檢測(cè)中有著非常重要的作用和應(yīng)用。本論文對(duì)激光掃描技術(shù)進(jìn)行了全面論述,就激光掃描測(cè)量系統(tǒng)的工作原理、產(chǎn)生精度誤差的原因等方面進(jìn)行了詳盡的理論分析,并且基于本實(shí)驗(yàn)室的實(shí)際條件就實(shí)驗(yàn)工作進(jìn)行了具體實(shí)踐,做出了有意義的實(shí)驗(yàn)探索。 圍繞激光掃描測(cè)量系統(tǒng),本文主要進(jìn)行了以下幾個(gè)方面的工作: 1.從光學(xué)掃描理論出發(fā),詳盡分析了激光掃描測(cè)量系統(tǒng)的工作原理,就系統(tǒng)各個(gè)工作部分的原理進(jìn)行了詳細(xì)的闡述。并就激光掃描測(cè)量技術(shù)和一些傳統(tǒng)測(cè)量技術(shù)(如CCD接收測(cè)量技術(shù))的優(yōu)劣進(jìn)行了理論和可行性方面的比較。 2.基于激光掃描測(cè)量系統(tǒng)的原理進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)研究,分解系統(tǒng)各個(gè)部分:光學(xué)部分、光電轉(zhuǎn)換部分、單片機(jī)信號(hào)處理部分等,并分別進(jìn)行實(shí)驗(yàn)實(shí)踐,找出了切實(shí)可行的工件、配件和實(shí)驗(yàn)方法等。 3.對(duì)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的精度誤差進(jìn)行了分析,包括理論分析和實(shí)驗(yàn)分析,找出造成誤差的具體原因包括理論誤差和機(jī)械工藝誤差,并提出解決的方法。包括詳細(xì)分析了激光束的聚焦和準(zhǔn)直, f -θ透鏡的應(yīng)用原理等。 4.最后就實(shí)驗(yàn)的情況進(jìn)行了分析總結(jié),對(duì)實(shí)驗(yàn)的下一步進(jìn)展提出了展望。總之,本文在對(duì)激光掃描測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行的理論和實(shí)驗(yàn)的工作,在系統(tǒng)各個(gè)工作部分都取得了一定的實(shí)驗(yàn)成果,對(duì)后期實(shí)驗(yàn)的進(jìn)行積攢了豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),具有一定的實(shí)驗(yàn)參考價(jià)值。
【關(guān)鍵詞】：激光掃描 CCD 半導(dǎo)體激光器 f -θ透鏡
【學(xué)位授予單位】：天津大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2007
【分類號(hào)】：TH744.5
【目錄】：

• 中文摘要2-3
• Abstract3-5
• 第一章 緒論5-12
• 1.1 激光掃描測(cè)量技術(shù)簡(jiǎn)介5-6
• 1.2 激光掃描測(cè)量的現(xiàn)狀6-8
• 1.3 激光掃描技術(shù)應(yīng)用目前的發(fā)展方向8-12
• 第二章 激光掃描測(cè)徑系統(tǒng)的原理12-31
• 2.1 掃描光學(xué)系統(tǒng)12-15
• 2.2 激光掃描測(cè)徑系統(tǒng)工作原理15-16
• 2.3 掃描光束產(chǎn)生部分16-18
• 2.4 掃描光束的接收部分18
• 2.5 信號(hào)的處理與顯示部分18
• 2.6 其他一些測(cè)量方法以及特點(diǎn)18-31
• 第三章 激光掃描測(cè)徑系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)實(shí)現(xiàn)方法31-40
• 3.1 光學(xué)部分實(shí)現(xiàn)方法31-35
• 3.2 光電轉(zhuǎn)換部分的實(shí)現(xiàn)方法35-37
• 3.3 信號(hào)處理部分的實(shí)現(xiàn)方法37-40
• 第四章 激光掃描高精度測(cè)量的實(shí)現(xiàn)方法40-52
• 4.1 掃描光束的聚焦與準(zhǔn)直40-44
• 4.2 f-θ透鏡的原理與應(yīng)用44-49
• 4.3 其它理論方面提高測(cè)量精度的方法49
• 4.4 軟件提高測(cè)量精度的方法49-52
• 第五章 實(shí)驗(yàn)與測(cè)量精度分析52-60
• 5.1 初期實(shí)驗(yàn)52-55
• 5.2 精度分析55-58
• 5.3 測(cè)量的整體理論誤差分析58
• 5.4 測(cè)量實(shí)驗(yàn)中的機(jī)械工藝誤差分析58-60
• 第六章 全文總結(jié)與展望60-62
• 附錄62-66
• 參考文獻(xiàn)66-69
• 致謝69

【引證文獻(xiàn)】

中國碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫 前3條

1 蘇東平;基于FPGA的激光衍射測(cè)徑儀的研究[D];哈爾濱理工大學(xué);2010年

2 孫菲菲;基于線陣CCD的圖像式聚合物材料雜質(zhì)測(cè)量?jī)x[D];哈爾濱理工大學(xué);2011年

3 何曉瑞;線徑的激光投影成像差動(dòng)測(cè)量方法與系統(tǒng)研究[D];湖北工業(yè)大學(xué);2010年

  本文關(guān)鍵詞：激光掃描測(cè)徑儀的試驗(yàn)探索，，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

本文編號(hào)：303829