單細(xì)胞分析主要包括觀測和操控兩個方面。對單細(xì)胞的觀測需要借助具有微納米級分辨率的顯微技術(shù),現(xiàn)有的顯微技術(shù)主要有光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡和掃描探針顯微鏡。掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM）是掃描探針顯微鏡的一種,因具有納米級的分辨率和非力接觸的特點,能夠在生理條件下實現(xiàn)對活體細(xì)胞的高分辨率無損成像,使其成為在細(xì)胞生物學(xué)、病理藥物學(xué)等研究領(lǐng)域的有力工具。掃描速度與抗干擾能力一直是SICM面臨的一對難題,傳統(tǒng)的掃描模式難以同時滿足兩方面的需求。直流模式掃描速度快但易受直流漂移影響,距離調(diào)制模式和跳躍模式抗干擾能力強(qiáng)但掃描速度慢。最新提出的同相電壓調(diào)制模式使用交流電壓作為激勵,在保證系統(tǒng)抗干擾能力的前提下提高了掃描速度,是目前較先進(jìn)的成像模式,但其和直流模式相比在掃描速度和成像分辨率方面仍然存在差距。本文針對提高SICM掃描速度和成像質(zhì)量的需求,開展了對新型成像方法的研究,主要進(jìn)行了如下工作:首先,在同相電壓調(diào)制模式的基礎(chǔ)上提出了一種新的SICM微弱信號優(yōu)化方法——反相電壓調(diào)制信號優(yōu)化方法,該方法保持了對直流漂移和電氣噪聲的抑制能力,同時進(jìn)一步提升了反饋電流的信噪比。使系統(tǒng)獲得了垂直分辨率和掃描... 

【文章來源】：東北大學(xué)遼寧省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：71 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

圖１．２?ＳＩＣＭ和ＡＦＭ對成纖維細(xì)胞成像結(jié)果１２９１??Ｆｉ．?１．２?Ｅｘｅｒｉｍｅｎｔａｌ?ｒｅｓｕｌｔｓ?ｏｆ?ＳＩＣＭ?ａｎｄ?ＡＦＭ?ｉｍａｉｎｏｆ?Ｆｉｂｒｏｂｌａｓｔｓ?１２

ｎｌ＾ｆｌ??（ａ）?ＳＩＣＭ成像結(jié)果?（ｂ）?ＡＦＭ成像結(jié)果??圖１．２?ＳＩＣＭ和ＡＦＭ對成纖維細(xì)胞成像結(jié)果１２９１??Ｆｉｇ．?１．２?Ｅｘｐｅｒｉｍｅｎｔａｌ?ｒｅｓｕｌｔｓ?ｏｆ?ＳＩＣＭ?ａｎｄ?ＡＦＭ?ｉｍａｇｉｎｇ?ｏｆ?Ｆｉｂｒｏｂｌａｓｔｓ?１２；??（ａ）?ＳＩＣＭ?ｉｍａｇｅ；（ｂ）?ＡＦＭ?ｉｍａｇｅ??－７?－??

Ｆｉｇ．?２．１?Ｓｃｈｅｍａｔｉｃ?ｄｉａｇｒａｍ?ｏｆ?ＳＩＣＭ??電流隨探針／樣品間距離變化曲線又叫逼近曲線，是由探針從距離樣品表面的遠(yuǎn)處按??一定的速度向樣品逼近，同時采集回路電流獲得，如圖２．２所示，是ＳＩＣＭ能夠完成對??樣品表面形貌表征的依據(jù)。橫軸代表探針尖端與樣品間的距離，縱軸是作為反饋量的離??子電流的大小。當(dāng)針尖與樣品的間距較大時，電流保持在參考值不變，此時探針與樣品??的間隙較大，對離子不產(chǎn)生阻礙作用，電流對距離不敏感，當(dāng)探針／樣品距離縮小到約為??－?１?１?－??


本文編號：2955936