X射線熒光光譜儀是當(dāng)前廣泛使用的一種元素分析儀器。隨著X射線熒光分析技術(shù)的發(fā)展,分析測(cè)試領(lǐng)域?qū)υ擃悆x器分辨精度的要求愈加嚴(yán)格,以滿足對(duì)自然界內(nèi)的復(fù)雜樣品元素以及不同元素的不同價(jià)態(tài)進(jìn)行分析。本論文設(shè)計(jì)的測(cè)角儀自動(dòng)控制系統(tǒng)是X射線熒光光譜儀中的掃描測(cè)量控制部分,為該儀器提供高精度的角度定位,以提高元素分析的分辨率。高精度測(cè)角儀由南京地質(zhì)礦產(chǎn)研究所儀器研發(fā)中心承擔(dān)研制開發(fā),屬于國家重大科學(xué)儀器開發(fā)專項(xiàng)項(xiàng)目——《波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化》。論文主要完成工作如下:1)通過學(xué)習(xí)了解X射線熒光光譜儀的工作原理,并以國內(nèi)、外多個(gè)廠家的角度測(cè)量儀為參考,設(shè)計(jì)了以FPGA芯片為核心的測(cè)角儀底層驅(qū)動(dòng)電路。驅(qū)動(dòng)電路采用脈沖發(fā)送方式控制步進(jìn)電機(jī),經(jīng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器細(xì)分,測(cè)角儀的控制精度可達(dá)0.001°（2θ）。同時(shí)以高靈敏度光電傳感器作為限位保護(hù)和初始化定位開關(guān),設(shè)計(jì)了測(cè)角儀的運(yùn)行保護(hù)電路。2)以VisualStudio C++2013集成開發(fā)環(huán)境提供的MFC類庫搭建了測(cè)角儀系統(tǒng)的上層通信控制界面。此界面用于模擬上位機(jī)以CAN總線協(xié)議向測(cè)角儀底層驅(qū)動(dòng)電路發(fā)送控制命令,并監(jiān)測(cè)返回?cái)?shù)據(jù),可實(shí)現(xiàn)測(cè)角儀... 

【文章來源】：中國地質(zhì)大學(xué)(北京)北京市 211工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：83 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

ARL8400無齒輪莫爾條紋測(cè)角儀

圖 1-1 理學(xué) RIX-2100 測(cè)角儀實(shí)物圖光學(xué)和電子器件性能的提升，測(cè)角儀部件的傳動(dòng)方式司生產(chǎn)的 ARL8400 產(chǎn)品（ARL，1996），采用了莫爾條

圖 1-3 加光學(xué)傳感器的 SmartGoino 測(cè)角儀著名公司包括荷蘭帕納科公司，德國布魯克(Bruker)公儀在全世界廣泛使用，其最新產(chǎn)品的測(cè)角儀部件大多精度可達(dá)±0.0001°，掃描速度0.001°~1.27°/s 。角儀研制現(xiàn)狀 射線熒光分析領(lǐng)域的研究相對(duì)較晚，主要通過引進(jìn)不進(jìn)行技術(shù)學(xué)習(xí)，并與國外廠家與學(xué)者進(jìn)行學(xué)術(shù)交流。（Philip J P，2000），其中一些應(yīng)用性文章被國外學(xué)內(nèi) X 射線熒光光譜分析產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。內(nèi)相關(guān)領(lǐng)域的專家與廠商對(duì) X 射線衍射儀的開發(fā)做角度測(cè)量系統(tǒng)與本論文研究的測(cè)角儀在結(jié)構(gòu)上有相互超華教授設(shè)計(jì)的 θ-θ 掃描技術(shù)的高精度自動(dòng)粉末衍射

【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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碩士論文
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本文編號(hào)：2927238