形貌與邊緣復(fù)合測量探頭系統(tǒng)
【學(xué)位單位】:合肥工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位年份】:2018
【中圖分類】:TH74
【部分圖文】:
線性區(qū)間測量階高,通過更換物鏡數(shù)值孔徑可擴大測量范圍。同時,該探頭系統(tǒng)具有測量重復(fù)性好、測量速度快和成本低等優(yōu)點。1.2 研究現(xiàn)狀非接觸式的測量方法有很多,比較常見的如激光三角測量法,測量范圍較大且對待測表面要求不高[11];白光干涉測量技術(shù),由于使用非相干光源,此技術(shù)需要設(shè)計微調(diào)裝置,可重建物體表面形貌[12];共焦顯微測量技術(shù),主要結(jié)構(gòu)由共軛成像系統(tǒng)組成,當被測器件表面與探測表面位置共軛時,打在探測器上的光點最小、能量最大,此技術(shù)在生物測量領(lǐng)域內(nèi)廣泛應(yīng)用[13][14];全息干涉測量技術(shù),它對被測器件的工作環(huán)境,如負載、溫度和壓力等沒有嚴格限制,具有較高的檢測精度和靈敏度[15];散斑干涉法,激光照射在粗糙表面發(fā)生折射,形成亮斑與暗斑,通稱為散斑,分析這些散斑就可以檢測出被測器件表面各點的位移[16]。針對不同的測量場合和測量需求,應(yīng)選用合適的測量方法以達到測量目的。下面主要介紹非接觸式探頭和儀器在國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀。
圖 1.2 利用駐波干涉模型測量原理圖2 The standing wave interference model measurement principle 在上面的基礎(chǔ)上,日本 Yasuhiro Takaya 等人為了測量了基于駐波模型的光學(xué)干涉測量技術(shù),激光捕獲的散形成駐波干涉模型[18]。使用的 8 m 測球處于動態(tài)平衡換為微球的往復(fù)運動。并通過高精度光滑表面的輪廓可行性,測量分辨力優(yōu)于 10 nm,最大可測量范圍 2。
圖 1.2 利用駐波干涉模型測量原理圖1.2 The standing wave interference model measurement principle di,在上面的基礎(chǔ)上,日本 Yasuhiro Takaya 等人為了測量出了基于駐波模型的光學(xué)干涉測量技術(shù),激光捕獲的散可形成駐波干涉模型[18]。使用的 8 m 測球處于動態(tài)平衡轉(zhuǎn)換為微球的往復(fù)運動。并通過高精度光滑表面的輪廓其可行性,測量分辨力優(yōu)于 10 nm,最大可測量范圍 250。
【參考文獻】
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本文編號:2816117
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