基于SFS的工業(yè)內(nèi)窺鏡三維測量方法研究
發(fā)布時間:2020-08-28 17:00
工業(yè)內(nèi)窺鏡作為工業(yè)無損檢測技術(shù)(NDT)的一個重要組成部分,在民航,汽車,船舶等行業(yè)中具有非常廣泛的應用,針對工業(yè)內(nèi)窺鏡測量功能的研究也因而成為了目前的熱點研究問題。論文針對使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進行場景三維測量的問題進行了深入研究,基于從明暗恢復形貌(SFS)技術(shù),提出了一種可應用于工業(yè)內(nèi)窺鏡的點光源照明下的新型尺度化SFS三維測量方法。該方法僅使用一張圖像即可還原具有尺寸信息的場景三維形貌,為研制具有三維形貌測量能力的商用工業(yè)內(nèi)窺鏡系統(tǒng)提供了一套可行的參考方案。本文涉及的主要研究成果包括:1.設(shè)計了應用點光源照明的側(cè)視型工業(yè)內(nèi)窺鏡鏡頭,試制了鏡頭原型樣機。該系統(tǒng)采用側(cè)視雙CCD鏡頭設(shè)計,通過點光源進行照明,最大程度上減小了鏡頭結(jié)構(gòu)的復雜程度,易于工程實現(xiàn),具有非常高的實用價值。2.提出了一種新型的近點光源標定方法。該方法基于完整的點光源模型,使用高反光球與朗伯體平板作為標定物,綜合使用立體視覺和最優(yōu)化,通過鏡面反射和漫反射的性質(zhì)完成光源位置和主光軸的標定。3.提出了一種點光源模型下的尺度化SFS三維測量方法,在測量場景表面形貌的同時可以獲得準確的尺度信息。該方法在點光源照明的情況下,將立體視覺中的相機參數(shù)矩陣應用到SFS算法中,推導出了場景深度圖的求解公式,解決了SFS算法僅可還原場景形貌但無法獲得場景尺寸信息的問題。該方法對硬件系統(tǒng)要求較低,并具有很高的測量效率,特別適合于工業(yè)內(nèi)窺鏡的應用。
【學位單位】:中國民航大學
【學位級別】:碩士
【學位年份】:2018
【中圖分類】:TH878
本文編號:2807873
【學位單位】:中國民航大學
【學位級別】:碩士
【學位年份】:2018
【中圖分類】:TH878
【參考文獻】
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本文編號:2807873
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