【摘要】：大尺寸鋼卷尺目標(biāo)線紋檢定是目前≥5 m鋼卷尺檢定的關(guān)鍵技術(shù)。為解決多相機(jī)安裝位置固定存在的鋼卷尺目標(biāo)線紋檢定不能更改的問題,研究了一種基于移動(dòng)CCD與光柵計(jì)量的大尺寸鋼卷尺目標(biāo)線紋的檢定方法,重點(diǎn)研究了5 m檢定平臺(tái)的目標(biāo)線紋視窗定位控制算法和光柵計(jì)量的大尺寸自適應(yīng)修正方法,解決了大尺寸鋼卷尺目標(biāo)線紋與CCD視窗中心偏差過大帶來的線紋辨識(shí)錯(cuò)誤或無法辨識(shí)問題,并在5 m鋼卷尺檢定平臺(tái)上將光柵計(jì)量精度提高到微米量級(jí)。實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)驗(yàn)證了上述方法的正確性和有效性。

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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【二級(jí)參考文獻(xiàn)】

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【相似文獻(xiàn)】

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本文編號(hào)：2774957